恩智浦半导体
LPC2917 / 01 ; LPC2919 / 01
ARM9微控制器，带有CAN和LIN
6.6复位，调试，测试和电源描述
6.6.1复位和上电行为
该LPC2917 / 2919 / 01包含外部复位输入和内部上电复位电路。
这确保了复位内部延至振荡器和FL灰已经达到
一个稳定的状态。看
第8
对于内部上电复位电路跳闸水平
1
。看
第9
对于几种启动和初始化时代特征。
表4
节目
RESET引脚。
表4 。
符号
RST
复位引脚
方向
IN
描述
外部复位输入，低电平有效;拉升国内
在激活RST引脚的JTAGSEL引脚被检测为逻辑低电平。如果是这种情况
的LPC2917 / 2919 / 01被假定为连接到调试硬件，和内部
电路重新编程的源BASE_SYS_CLK是晶体振荡器，而不是
的低功耗环形振荡器（ LP_OSC ） 。这是必需的，因为时钟频率时，
在LP_OSC速度运行过低的外部调试环境。
6.6.2复位策略
该LPC2917 / 2919 / 01包含一个核心模块，在复位发生器单元（ RGU ）
电源，时钟和复位子系统（ PCRSS ） ，控制所有内部复位信号
向外围模块。该RGU提供个别复位控制以及
需要跟踪复位回源监控功能。
6.6.3 IEEE 1149.1接口引脚（ JTAG边界扫描测试）
的LPC2917 / 2919 / 01中包含的边界扫描测试逻辑根据IEEE 1149.1 ，也
本文档作为联合测试行动组（JTAG ）的简称。边界扫描测试
管脚可被用来连接一个调试探针为嵌入式的ARM处理器。针
JTAGSEL边界扫描模式和调试模式之间进行选择。
表5
显示
边界扫描测试引脚。
表5 。
符号
JTAGSEL
TRST
TMS
TDI
TDO
TCK
IEEE 1149.1边界扫描测试和调试接口
描述
TAP控制器选择输入。低电平选择ARM调试模式和高层次
选择边界扫描和FL灰编程;拉升国内
测试复位输入;拉内（低电平有效）
测试模式选择输入;拉升国内
测试数据输入，拉升国内
测试数据输出
测试时钟输入
1.
仅适用于1.8 V电源
NXP B.V. 2009保留所有权利。
LPC2917_19_01_2
初步数据表
牧师02 - 2009年6月17日
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