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WM8195
并行接口
t
机顶盒
机顶盒
t
亚利桑那州立大学
OP [13： 6]
高阻
ADC DATA OUT
地址
DATA IN
生产数据
t
AH
t
DSU
t
DH
高阻
t
沙田民政事务处
ADC DATA OUT
t
STAO
REG 。 DATA OUT
ADC DATA OUT
t
ADLS
脱氧核糖核酸
t
OPZ
荷广
t
ADLH
t
ADHS
t
ADHH
t
OPD
图6并行接口时序
测试条件
AVDD1 AVDD2 = = DVDD1 = DVDD2 = DVDD3 = 4.75 5.25V ， AGND = DGND = 0V ，T
A
= 0至70℃ ， MCLK = 24MHz的
除非另有说明。
参数
RNW低到OP [ 13 ： 6 ]高阻
地址建立时间STB低
DNA低的建立时间为STB低
频闪低的时间
从STB高地址保持时间
从STB高DNA低保持时间
数据建立时间到STB低
DNA高建立时间STB低
从STB高数据保持时间
从STB高数据高保持时间
荷广高到OP [ 13 ： 6 ]输出
数据输出传播延时
STB低
ADC数据输出传播延时
从STB高
符号
t
OPZ
t
亚利桑那州立大学
t
ADLS
t
机顶盒
t
AH
t
ADLH
t
DSU
t
ADHS
t
DH
t
ADHH
t
OPD
t
沙田民政事务处
t
STAO
0
5
30
5
5
0
5
5
5
30
30
30
测试条件
民
典型值
最大
10
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
注意：
参数的上升沿/下降沿的50％进行测定。
w
PD版本4.1 2005年7月
12
