位置：首页 > IC型号导航 > 首字符X型号页 > 首字符X的型号第0页 > XWM81955CFT/RV > XWM81955CFT/RV PDF资料 > XWM81955CFT/RV PDF资料1第11页
生产数据
WM8195
串行接口
t
SPER
SCK
t
SSU
SDI
t
SCE
SEN
t
SERD
ADC数据
SDO
最高位
注册资料
最低位
t
SCRD
t
SCRDZ
ADC
数据
t
SEW
t
美国证券交易委员会
t
SH
t
SCKL
t
SCKH
图5串行接口时序
测试条件
AVDD1 AVDD2 = = DVDD1 = DVDD2 = DVDD3 = 4.75 5.25V ， AGND = DGND = 0V ，T
A
= 0至70℃ ， MCLK = 24MHz的
除非另有说明。
参数
SCK周期
SCK高
SCK低
SDI建立时间
SDI保持时间
SCK为SEN建立时间
SEN到SCK建立时间
SEN脉冲宽度
SEN低到SDO =注册资料
SCK低到SDO =注册资料
SCK低到SDO = ADC数据
符号
t
SPER
t
SCKH
t
SCKL
t
SSU
t
SH
t
SCE
t
美国证券交易委员会
t
SEW
t
SERD
t
SCRD
t
SCADC
测试条件
民
41.6
18.8
18.8
6
6
12
12
25
30
30
30
典型值
最大
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
注意：
参数的上升沿/下降沿的50％进行测定。
w
PD版本4.1 2005年7月
11
