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SLWS211B - 2008年7月 - 修订2008年10月
LVDS时序在较低的采样频率
采样频率, MSPS
210
190
170
150
125
<100
使低速模式
1
Fs
100,
使低速模式
(1)
TS = 1 /采样频率
建立时间, NS
1.0
1.1
1.3
1.6
1.9
2.5
典型值
1.4
1.5
1.7
1.9
2.2
最大
0.4
0.5
0.7
0.9
1.1
2.0
t
PDI
, NS
典型值
8.2
(1)
保持时间, NS
典型值
0.8
0.9
1.1
1.2
1.4
最大
最大
CMOS时序,在较低的采样频率
时序规范相对于输入时钟
采样频率, MSPS
210
190
170
150
t
开始
, NS
典型值
最大
1.7
0.4
5.1
4.8
DATA有效时间, NS
1.6
2.2
2.4
3.0
典型值
2.4
3.0
3.6
4.3
最大
时序规范就到CLKOUT
采样频率, MSPS
150
125
<100
使低速模式
1
Fs
100
使低速模式
(1)
TS = 1 /采样频率
2.0
2.9
5.0
建立时间, NS
典型值
3.2
4
最大
1.5
2.2
3.8
t
PDI
, NS
典型值
14
(1)
保持时间, NS
典型值
2.2
2.7
最大
最大
2008 ,德州仪器
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