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CY7C1381DV25 ， CY7C1381FV25
CY7C1383DV25 ， CY7C1383FV25
IEEE 1149.1串行边界扫描（ JTAG ）
该CY7C1381DV25 / CY7C1383DV25集成了串行
边界扫描测试访问端口（TAP ） 。这部分是完全
符合1149.1 。 TAP在工作时使用
JEDEC标准的3.3V或2.5V的IO逻辑电平。
该CY7C1381DV25 / CY7C1383DV25包含一个TAP
控制器，指令寄存器，边界扫描寄存器，旁路
注册和ID寄存器。
禁用JTAG特性
它是可以操作的SRAM不使用JTAG
功能。要禁用TAP控制器，必须将TCK连接LOW
(V
SS
），以防止在设备的时钟。 TDI和TMS是
内部上拉，可能是无关的。他们可能
交替地连接到V
DD
通过一个上拉电阻。
TDO可以悬空。在加电时，该设备会
拿出在复位状态，从而不会与干扰
该装置的操作。
测试数据输入（ TDI ）
TDI的球是用于串行地输入信息进
寄存器，并且可以连接到任何的所述输入
寄存器。 TDI和TDO之间的寄存器所选择的
被加载到TAP指令寄存器指令。为
在加载指令寄存器的信息，请参阅
龙头
控制器状态图。
TDI在内部上拉，并能
未连接，如果TAP是未使用的应用程序。 TDI是
连接到任何寄存器的最显著位（MSB） 。
（见
TAP控制器框图） 。
测试数据输出（ TDO ）
从TDO输出球被用于从所述串行时钟数据输出
寄存器。根据当前的输出是活动的
TAP状态机的状态。对输出变化
TCK下降的边缘。 TDO连接到所述至少显著
位（ LSB ）的任何寄存器。 （见
TAP控制器状态图。 ）
TAP控制器框图
0
旁路寄存器
2 1 0
TAP控制器状态图
1
TEST- LOGIC
RESET
0
0
运行测试/
空闲
1
SELECT
DR -SCAN
0
1
捕捉-DR
0
按住Shift -DR
1
EXIT1-DR
0
暂停-DR
1
0
EXIT2-DR
1
更新DR
1
0
0
0
1
0
1
1
SELECT
IR- SCAN
0
捕获红外
0
按住Shift -IR
1
EXIT1-IR
0
暂停-IR
1
EXIT2-IR
1
更新IR
1
0
0
1
0
1
TDI
选择
电路
指令寄存器
31 30 29 . . . 2 1 0
S
选举
TDO
CIRCUITR
y
Identi科幻阳离子注册
x . . . . . 2 1 0
边界扫描寄存器
TCK
TMS
TAP控制器
执行TAP复位
复位通过将TMS强制执行HIGH （V
DD
）五上涨
TCK的边缘。此复位不会影响到操作
SRAM和而这些SRAM操作可被执行。在
上电时， TAP会在内部复位，以确保TDO
出现在高阻状态。
TAP寄存器
寄存器连接在TDI和TDO球之间
允许数据被扫描和缩小SRAM测试电路。
只有一个寄存器可以一次通过来选择
指令寄存器。数据被串行地加载到TDI的球
TCK的上升沿。数据是对的TDO输出球
TCK下降的边缘。
指令寄存器
三个位指令可以被串行加载到指令
注册。当它被放置之间的此寄存器被加载
如图所示，在TDI和TDO球
TAP控制器模块
图。
在加电时，指令寄存器装入
IDCODE指令。它还加载IDCODE
如果指令控制器处于复位状态如
在上一节中描述。
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0或1旁边的每个状态代表TMS的值
TCK的上升沿。
测试访问端口（ TAP ）
测试时钟（ TCK ）
测试时钟仅用于TAP控制器。所有输入
被捕获在TCK的上升沿。所有输出驱动
从TCK的下降沿。
测试模式选择（ TMS ）
TMS输入用于向TAP控制器发出命令
并进行采样，在TCK的上升沿。该引脚可留
未连接，如果不使用水龙头。球被拉起
在内部，从而产生逻辑高电平。
文件编号： 38-05547牧师* E
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