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初步
IDCODE指令被装载到指令寄存器
在上电时或者每当TAP控制器给出一个测试
逻辑复位状态。
SAMPLE Z
该SAMPLE Z指令导致边界扫描寄存器
要连接的TDI和TDO的球时的TAP之间
控制器处于Shift-DR状态。它还会将所有SRAM输出
进入高阻状态。
采样/预
SAMPLE / PRELOAD是1149.1强制性指令。当
在SAMPLE / PRELOAD指令加载到
指令寄存器和TAP控制器处于Capture -DR
状态下，对输入数据和输出引脚的快照是
捕捉到边界扫描寄存器。
用户必须意识到， TAP控制器时钟只能
工作在频率高达20 MHz ，而SRAM时钟
经营超过幅度快一个数量级。因为
还有，在时钟频率有很大差异，这是
可能是在Capture-DR状态，输入或输出
将进行过渡。那么TAP可以尝试捕捉
信号，而在过渡（稳态） 。这不会伤害
该设备，但也不能保证作为对值，该值将
被捕获。可重复的结果可能是不可能的。
为了保证边界扫描寄存器将捕获
的信号的正确值， SRAM的信号必须稳定
足够长的时间，以达到TAP控制器的捕获设置了加
CY7C1381D
CY7C1383D
保持时间（T
CS
和T
CH
） 。 SRAM的时钟输入可能不
正确地捕捉到，如果没有办法在一个设计停止（或
一个SAMPLE / PRELOAD指令时慢）的时钟。如果这
是一个问题，它仍然是可能的以捕获所有的其它信号和
简单地忽略的CK和CK ＃在捕捉到的值
边界扫描寄存器。
一旦数据被捕获，能够通过移出数据
把TAP进入Shift-DR状态。这会将
TDI和TDO引脚之间的边界扫描寄存器。
PRELOAD允许的初始数据图案被放置在所述
边界扫描寄存器单元的锁存并行输出
之前的另一个边界扫描测试操作的选择。
数据为样本和预紧阶段转移
在需要时可以并行执行 - 即，当数据
捕获移出，预装的数据可以移入。
绕行
当BYPASS指令，在指令加载
注册和TAP置于Shift-DR状态，旁路
注册置于TDI和TDO球之间。该
利用BYPASS指令的是，它缩短了
当多个设备被连接的边界扫描路径
同时在电路板上。
版权所有
这些指令不落实，但可以留作
将来使用。不要使用这些指令。
TAP时序
1
测试时钟
（ TCK ）
吨TMSS
2
3
4
5
6
第t
吨TMSH
t
TL
吨CYC
测试模式选择
（TMS）的
吨TDIS
吨TDIH
测试数据，在
（ TDI）的
吨TDOV
吨TDOX
测试数据输出
（ TDO ）
不在乎
未定义
文件编号： 38-05544修订版**
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