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CY7C1366A/GVT71256C36
CY7C1367A/GVT71512C18
部分真值表进行读/写
[10]
功能
读
读
写一个字节
写的所有字节
写的所有字节
GW
H
H
H
H
L
BWE
H
L
L
L
X
BWA
X
H
L
L
X
BWB
X
H
H
L
X
BWC
X
H
H
L
X
BWD
X
H
H
L
X
IEEE 1149.1串行边界扫描（ JTAG ）
概观
该器件集成了串行边界扫描端口的访问
（TAP） 。该端口被设计相一致的方式来操作
IEEE标准1149.1-1990 （通常被称为
JTAG） ，但是不执行所需的所有功能
IEEE 1149.1合规性。某些功能已经作案
田间或消除，因为其执行额外地
延迟器件的临界速度的路径。不过，
该设备支持标准TAP控制器架构
（ TAP控制器的状态机，它控制所述的TAP
操作），并且可以预期的方式发挥功能即
不与装置的符合IEEE斯坦操作发生冲突
准1149.1标准的水龙头。 TAP在工作时使用LVTTL /
LVCMOS逻辑电平信号。
禁用JTAG特性
因此能够使用该设备在不使用JTAG特性。
要禁用TAP控制器不正常的干扰
该装置的操作，TCK应连接到低电平（Ⅴ
SS
），以预
发泄计时设备。 TDI和TMS在内部上拉
并且可以悬空。它们可交替地被向上拉
到V
CC
通过一个电阻。 TDO悬空。
上电时器件会在复位状态，
不会干扰该装置的操作。
TDO - 测试数据输出（ OUTPUT）
在TDO输出引脚用于串行数据时钟输出从
寄存器。视的状态下被激活，输出
TAP状态机（参见
图1中，
TAP控制器状态
图）。输出的变化响应于下降沿
TCK 。这是串行寄存器放置在输出侧BE-
吐温TDI和TDO 。 TDO连接到所述至少显著
任何位寄存器（ LSB ） （见
图2）。
执行TAP复位
在TAP电路不具有复位引脚（ TRST ，这是
在IEEE 1149.1规格可选）。一个复位可
通过强制TMS高电平（V进行TAP控制器
CC
)
达5个TCK上升沿和预加载指令稳压
存器的IDCODE指令。这种类型的复位不
影响系统逻辑的操作。复位会影响测试
逻辑而已。
上电时， TAP会在内部复位，以确保TDO是
在高阻状态。
测试访问端口（ TAP ）寄存器
概观
通过各种技术咨询寄存器被选择（一次一个）
一和零输入到TMS引脚为TCK序列
被选通。每一个水龙头寄存器的串行移位寄存器
在TCK的上升沿捕获串行输入数据和
推串行数据在TCK的后续下降沿。当
一个寄存器被选择，它被连接在TDI和间
TDO引脚。
指令寄存器
指令寄存器认为是execut-的说明
由TAP控制器编当它被移动到运行测试/空闲
或各种数据的寄存器状态。该指令有三个
位长。该寄存器可以当它被放置之间被加载
TDI和TDO引脚。的指令的并行输出
寄存器都与IDCODE自动预载指令
灰上电时或每当所述控制器被放置在
测试逻辑复位状态。当TAP控制器处于的Cap-
TURE - IR状态，串行指令的两个最显著位
置寄存器被装入一个二进制的“ 01”模式，以允许
故障的板级串行测试数据路径分离。
旁路寄存器
旁路寄存器是一个单比特寄存器，它可以被放置
之间TDI和TDO 。它允许串行测试数据传递
通过TAP设备向另一台设备在扫描链
以最小的延迟。旁路寄存器被设置为低电平（ V
SS
)
当执行BYPASS指令。
测试访问端口（ TAP ）
TCK - 测试时钟（ INPUT）
时钟的所有TAP事件。所有的输入被捕获的上升
TCK的边缘，所有输出的下降沿传播
的TCK 。
TMS - 测试模式选择（ INPUT）
TMS输入进行采样，在TCK的上升沿。这是
命令输入的TAP控制器状态机。这是
允许离开这个引脚悬空，如果不使用水龙头。
该引脚被拉高内部，从而产生逻辑高电平。
TDI - 测试数据输入（ INPUT）
TDI输入进行采样，在TCK的上升沿。这是
串行寄存器置于TDI和TDO之间的输入侧。
置于TDI和TDO之间的寄存器由以下因素决定
TAP控制器状态机和指令的状态
这是在TAP指令寄存器当前加载的化见
图1 。
它允许离开这个引脚悬空，如果它不是
在应用程序中使用。该引脚上拉内部，造成
在一个逻辑高电平。 TDI连接到最高有效
任何位寄存器（ MSB ） （见
图2）。
注意：
10.对于X18的产品，只有BWA和BWB 。
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