HI- 506A ， HI- 507A ， HI- 508A ， HI- 509A
测试电路和波形
T
A
= 25
o
C，V
供应
=
±15V,
V
AH
= 4V, V
AL
= 0.8V, V
REF
=开，
除非另有说明
100A
V
2
IN
OUT
V
2
100A
V
IN
r
ON
=
图1A 。测试电路
1.4
归一化电阻
（简称AT价值
±15V)
1.3
导通电阻（千欧）
1.2
1.1
25
o
C
1.0
0.9
0.8
0.7
0.6
-10
-55
o
C
125
o
C
1.5
1.4
1.3
1.2
1.1
1.0
0.9
0.8
-8
-6
-4
-2
0
2
4
模拟输入（ V）
6
8
10
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
电源电压（ ± V）
-55
o
C至125
o
C
V
IN
= +5V
图1B 。 ON电阻与模拟输入电压
图1C 。归一化导通电阻与电源
电压
图1.导通电阻
100nA
10nA
漏电流
开关量输出
当前
渗漏
I
D（关闭）
当前
I
D（上）
1nA
A
I
D（关闭）
EN
OUT
+0.8V
100pA
开关量输入
漏电流
I
S（ OFF）
10pA
25
50
75
100
125
温度（
o
C)
图2A 。漏电流与温度
图2b 。我
D（关闭）
测试电路（注10 ）
9
FN3143.5
2004年11月22日
±
±10V
10V
