HI- 506A ， HI- 507A ， HI- 508A ， HI- 509A
测试电路和波形
8
A
T
A
= 25
o
C，V
供应
=
±15V,
V
AH
= 4V, V
AL
= 0.8V, V
REF
=开，
除非另有说明
（续）
+15V/+10V
+I
供应
电源电流（mA ）
6
A
3
V
供应
=
±15V
VA
V
供应
=
±10V
2
+4V
50
A
2
V+
IN 1
±10V/±5V
HI-506A
IN 2
THRU
A
1
在7 / 15中的
10V/
±
±
A
0
EN
GND
在8/ 16
OUT
V-
5V
4
10
M
14
pF
0
1K
10K
100K
切换频率（Hz ）
1M
10M
一-I
供应
-15V/-10V
图5A 。电源电流与触发频率
对于HI - 507A / HI - 508A / HI- 509A类似的连接
图5B 。测试电路
图5.动态电源电流
900
800
访问时间（纳秒）
700
600
500
+4V
400
300
3
4
5
6
7
8
9 10 11 12
逻辑电平（高电平）， （Ⅴ）
13
14
15
V
A
50
V
REF
= OPEN FOR逻辑高电平
≤
6V
V
REF
=逻辑高逻辑高电平> 6V
A
3
A
2
A
1
A
0
EN
GND
V
REF
+15V
V+
IN 1
±10V
IN 2 THRU
在7 / 15中的
±
HI-506A
在16
OUT
V-
10V
10
k
50
pF
-15V
图6A 。访问时间与逻辑电平（高）
对于HI - 507A / HI - 580A / HI- 509A类似的连接
图6B 。测试电路
V
AH
= 4.0V
1
/ V
2 AH
地址
DRIVE （V
A
)
0V
V
A
输入
2V/DIV.
S
1
ON
+10V
产量
10%
t
A
产量
5V/DIV.
-10V
S
16
ON
200ns/DIV.
图6C 。测量点
图6.访问时间
图6D 。波形
11
FN3143.5
2004年11月22日
