HI- 506 ， HI- 507 ， HI- 508 ， HI -509
测试电路和波形
T
A
= + 25 ° C，V
供应
= ±15V, V
AH
= 2.4V, V
AL
= 0.8V ，除非另有规定编
1mA
V
2
IN
OUT
V
2
1mA
V
IN
r
ON
=
图1A 。测试电路
400
归一化电阻
（简称AT价值
±15V)
2.2
2.0
1.8
1.6
1.4
1.2
1.0
0.8
0.6
10
-55 ° C至+ 125°C
V
IN
= 0V
导通电阻（ Ω ）
300
+125°C
200
+25°C
100
-55°C
0
-15
-10
-5
0
5
模拟输入（ V）
10
15
11
12
13
14
15
电源电压（ ± V）
图1B 。 ON电阻与模拟输入电压
图1C 。归一化导通电阻与电源
电压
图1.导通电阻
100nA
10nA
漏电流
开关量输出
漏电流
I
D（关闭）
I
D（上）
EN
OUT
0.8V
1nA
A
I
D（关闭）
±10V
100pA
开关量输入
漏电流
I
S（ OFF）
+10V
10pA
25
50
75
100
125
温度（℃）
图2A 。漏电流与温度
图2b 。我
D（关闭）
测试电路（注12 ）
10
FN3142.8
二○○七年十月三十〇日
