R
Platform Flash在系统可编程配置PROM
平台闪存PROM TAP特点
该平台闪存PROM家庭进行无论是在系统
编程和IEEE 1149.1边界扫描（ JTAG ）
通过一个单一的4线测试访问端口（ TAP ）测试。这
简化了系统设计，并允许自动标准
测试设备来执行两种功能。交流
该平台闪存PROM TAP的特点是
描述如下。
T
CKMIN
TAP时序
图4
示出了TAP信号的时序关系。
这些TAP时序特性是相同的两个
边界扫描和ISP业务。
TCK
T
MSS
T
MSH
TMS
T
DIS
T
DIH
TDI
T
DOV
TDO
DS026_04_020300
图4：
测试访问端口时序
TAP AC参数
表10
显示时序参数中显示的波形TAP
图4中。
表10：
测试访问端口时序参数
符号
T
CKMIN
T
MSS
T
MSH
T
DIS
T
DIH
T
DOV
描述
TCK最小时钟周期时， V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TMS建立时间当V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TMS的保持时间当V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TDI建立时间时， V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TDI保持时间当V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TDO有效的延迟时， V
CCJ
= 2.5V或3.3V
民
100
10
25
10
25
–
最大
–
–
–
–
–
30
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
DS123 （ v2.11.1 ） 2007年3月30日
产品speci fi cation
www.xilinx.com
9
