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怀特电子设计
笔记
1.
2.
参考V所有电压
SS
测试交流时间,我
DD
和电气交流和直流特性的
可在正常参考值/电压电平进行的,但
有关说明和设备操作保证
整个电压范围内特定网络版。
输出测量等效负载:
12.
11.
W3EG264M64EFSU-D4
先进
所以建议的DQS有效(高电平或低电平)时或之前
写命令。所示的情况下( DQS从高阻去
逻辑低电平)时,适用于没有写入以前在进步
上车。如果前面的写在进步, DQS可能
在这段时间高,视吨
DQSS
.
刷新周期是64毫秒。这相当于平均刷新
率7.8125μs的。但是,自动刷新命令必须
被断言至少每隔70.3μs ;一阵清凉或张贴
由DRAM控制器大于8的刷新周期是不
允许的。
有效数据窗口由实现其他特定网络连接的阳离子衍生
- t
HP
(t
CK/2
), t
DQSQ
和叔
QH
(t
QH
= t
HP
- t
QHS
) 。数据有效
窗口减额成正比的时钟占空比
和一个实际数据有效窗口,可以得到的。时钟是
允许的45/55的最大占空比循环变化。功能
当超过45/55的比例操作是不确定的。数据有效
下面提供了工作周期测距窗降额曲线
与50/50和45/55 。
引用的每个输出组: X8 = DQS与DQ0 - DQ7 。
读取和写入,支持自动预充电不准是
才会发出吨
RAS
( MIN )可以SATIS网络版之前内部预充电
发出命令。
JEDEC特定网络连接ES CK和CK#输入转换率必须是> 1V / ns的
( 2V / ns的差异) 。
从DQS通过更多的DQ和DM输入压摆率必须不偏离
大于10%。如果DQ / DM / DQS转换速率低于0.5V / ns的,
时间必须降低: 50ps的必须加入到t
DS
和T
DH
每个100mV的/ ns的下降压摆率。如果压摆率超过4V / ns的,
功能性是不确定的。
t
HP
分是T的小
CL
分钟和T
CH
分实际施加于
设备的CK和CK #的输入,集体在银行主动。
t
HZ
( MAX)将战胜吨
DQSCK
(最大) +吨
RPST
(最大)
条件。吨
LZ
( MIN )将战胜吨
DQSCK
(MIN) + PRE( MAX)的
条件。
对于摆率大于1V /纳秒( LZ )的过渡将启动约
310ps更早。
CKE必须在整个时间的刷新激活(高)
命令被执行。也就是说,从时间自动刷新
命令注册, CKE必须激活每一个时钟上升沿
边缘,直到吨
RFC
已SATIS网络版。
每当工作频率被改变,但不包括抖动
该DLL需要被复位。这之后是200个时钟周期
(之前读取命令) 。
3.
V
TT
50
参考
30pF
产量
(V
OUT
)
13.
4.
AC时间和我
DD
测试可以使用V
IL
-to -V
IH
高达1.5V摆幅
在测试环境中,但输入定时仍参考V
REF
(或交叉点CK / CK # ) ,和参数特定网络阳离子
都保证在正常使用的特定网络编辑交流输入电平
条件。最小压摆率用于将输入信号
测试器件在V的范围为1V / ns的
IL
交流(AC)和V
IH
交流(AC) 。
交流和直流输入电平特定网络阳离子德网络定义的SSTL_
2标准(即,接收器能有效地转换为的结果
信号交叉的交流输入电平,并保持该状态
只要信号不响向后上方[下文] DC输入
低[高]级) 。
对于摆率小于1V / ns的和大于或等于0.5V /
纳秒。如果压摆率比0.5V / ns的比较少,时间必须降低:吨
IS
有每个100mV的/ ns的降低压摆率额外50ps的
从为500mV /纳秒。吨
IH
已0PS加入,也就是说,它保持恒定。
如果压摆率超过4.5V / ns的功能是不确定的。对于403
和335 ,摆率必须大于或等于0.5V / ns的。
输入无法识别为有效,直至V
REF
稳定。例外:
在V之前的期间
REF
稳定, CKE
0.3× V
CCQ
is
确认为低。
t
HZ
和T
LZ
转换发生在相同的访问时间窗为
有效的数据转换。这些参数没有被引用到一个
特定网络连接直流电压水平,但如果指定的输出设备不
再驾驶( HZ ) ,并开始驾驶( LZ ) 。
的“不关心”状态结束后意图
后置的是DQS驱动信号要么是高,低,
或高阻抗,并且对输入的任何信号转换开关
地区必须按照有效的输入要求。也就是说,如果DQS
转换为高(高于V
IHDC
( MIN ),那么它必须不转型
低(低于V
IHDC
)之前,吨
DQSH
(最小值) 。
这不是一个装置的限制。该装置将具有负的操作
值,但系统性能可能会因公交车被降解
周转。
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2005年8月
第0版
8
怀特电子设计公司 ( 602 ) 437-1520 www.wedc.com

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