位置：首页 > IC型号导航 > 首字符A型号页 > 首字符A的型号第272页 > AM29PDS322DT100WMIN > AM29PDS322DT100WMIN PDF资料 > AM29PDS322DT100WMIN PDF资料1第37页
D A T A
中文ê （E T）
AC特性
只读操作
参数
JEDEC
t
AVAV
t
AVQV
性病
t
RC
t
加
t
中国
t
PACC
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
t
CE
t
OE
t
DF
t
DF
t
OH
描述
读周期时间（注1 ）
地址输出延迟
页读周期
页地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
芯片使能到输出高Z（注1,3）
输出使能到输出高Z（注1,3）
输出保持时间从地址， CE ＃或OE ＃ ，
以先到为准科幻RST
读
t
OEH
注意事项：
1.不100 ％测试。
2.请参见图13和表12的测试规范。
通过将50Ω终端上的数据引脚与V的偏置进行测量3
CC
/ 2 。从OE ＃高到时间
数据总线驱动到V
CC
/ 2取为t
DF
.
输出使能保持
时间（注1 ）
切换和
数据＃投票
CE ＃ ， OE ＃ = V
IL
OE ＃ = V
IL
CE ＃ ， OE ＃ = V
IL
测试设置
民
最大
民
最大
最大
最大
最大
最大
民
民
民
速度选项
10
100
100
40
40
100
35
16
16
0
0
10
12
120
120
50
50
120
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
RC
地址
CE＃
t
RH
t
RH
OE ＃
t
OEH
WE＃
高Z
输出
RESET＃
RY / BY ＃
输出有效
t
CE
t
OH
高Z
t
OE
t
DF
地址稳定
t
加
0V
图15 。
传统的读操作时序
2006年12月4日23569A5
Am29PDS322D
35
