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SN54LVT8980A ， SN74LVT8980A
嵌入式测试总线控制器
IEEE 1149.1 （ JTAG ）以8位GENERIC主机接口TAP MASTERS
SCBS755B - 2002年4月 - 修订2004年3月
D
德州仪器广泛的会员
家庭可测试性产品的支持
IEEE标准1149.1-1990 （JTAG）测试访问
端口（TAP ）和边界扫描结构
提供内建的访问IEEE标准1149.1
扫描访问测试/维护
设施委员会和系统级
虽然技术在3.3 V时， TAP设备
完全5V容限为掌握这两种5 -V
和/或3.3 V的IEEE 1149.1标准的目标
简单的界面，以低成本3.3 V
微处理器/微控制器通过8位
异步读/写数据总线
编程容易通过扫描级别
命令集和智能TAP控制
透明生成议定书
支持多点TAP配置
采用TI公司的可寻址扫描端口
灵活的TCK发生器提供
可编程科，门控， TCK和
自由运行， TCK模式
离散TAP控制模式支持
任意TMS / TDI序列的
不符合要求的目标
可编程的32位测试周期计数器
支持几乎无限的扫描/测试长度
适应目标再定时（管道）
最多延迟到15时TCK周期
测试输出使能（ TOE ）允许
TAP信号的外部控制
高驱动输出（ -32 mA的我
OH
64 mA的我
OL
)
在TAP支持背板接口和/或
高扇出
SN54LVT8980A 。 。 。 JT包装
SN74LVT8980A 。 。 。 DW包装
（ TOP VIEW ）
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STRB
读/写
D0
D1
D2
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GND
D4
D5
D6
D7
CLKIN
1
2
3
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A0
A1
A2
RDY
TDO
V
CC
TCK
TMS
TRST
TDI
RST
TOE
SN54LVT8980A 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
D1
D2
D3
NC
GND
D4
D5
D0
读/写
STRB
NC
A0
A1
A2
5
6
7
8
9
10
4 3 2
1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
19
11
12 13 14 15 16 17 18
RDY
TDO
V
CC
NC
TCK
TMS
TRST
NC - 无内部连接
描述
在“ LVT8980A嵌入式测试总线控制器（ eTBCs ）是可测性的TI广泛的家庭成员
集成电路。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便测试
复杂的电路组件。与这个家庭的大多数其他设备上， eTBCs没有边界可扫描
设备;相反，它们的功能是要掌握一个IEEE 1149.1 （ JTAG ）测试访问端口（ TAP ）的指挥下，
的嵌入式主机微处理器/微控制器。因此， eTBCs使实用和有效地利用
IEEE标准1149.1测试接入基础设施，以支持嵌入式/内置测试，仿真和
配置/维护设施的板级和系统级。
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生产加工并不包括所有的测试
参数。
邮政信箱655303
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D7
CLKIN
NC
TOE
RST
TDI
关于产品符合MIL PRF 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
版权
2004年，德州仪器
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