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8兆位多用途闪存
SST39LF080 / SST39VF080
EOL数据表
VIHT
输入
VIT
参考点
VOT
产量
VILT
1146 F14.1
AC测试输入在V驱动
IHT
(0.9 V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(0.1 V
DD
）为一个逻辑“0”。测量参考点
输入和输出是V
IT
(0.5 V
DD
）和V
OT
(0.5 V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
IT
- V
输入
TEST
V
OT
- V
产量
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图14 ： AC输入/输出参考波形
TO测试仪
到DUT
CL
1146 F15.1
图15 ：测试负载示例
2007硅存储技术公司
S71146-07-EOL
6/07
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