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FIN3385 FIN3383 FIN3384 FIN3386
AC加载和波形
注意：
在最坏的情况下测试图形生成数字电路的最大来回切换， LVDS I / O和LVTTL / CMOS I / O。根据不同的有效频闪边缘
发射机，所述TXCLKIN可以是上升沿或下降沿数据选通。
图3： “最坏情况”测试模式
图4. LVDS发送器输出负载和转换时间
图5.发射机设置/保持和高/低时报（上升沿频闪）
图6.变送器输入时钟转换时间
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