37LV36/65/128
图11-2 ：读特性中的结阵时机
表11-2：
阅读特性月底阵列
AC测试波形： V
IL
= 0.2V; V
IH
= 3.0V
AC测试负载： 50 pF的
V
OL
= V
OL
_MAX ; V
OH
= V
OH
_min
极限3.0V
≤
VCC
≤
极限4.5V
≤
VCC
≤
6.0V
6.0V
分钟。
马克斯。
50
65
45
45
分钟。
—
—
—
—
马克斯。
50
40
40
40
ns
ns
ns
ns
注意事项1， 2
符号
参数
单位
条件
T
CDF
T
玉珠
T
OCE
T
OOE
CLK到数据浮法延迟
CLK首席执行官延迟
行政长官CEO延迟
RESET / OE首席执行官延迟
—
—
—
—
注1：此参数是周期性采样，而不是100 ％测试。
2 ：浮法延迟测量的输出通过1kΩ的上拉至V
负载
= V
CC
/2.
2004年Microchip的科技公司
DS21109F第5页
