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8兆位的SPI串行闪存
SST25VF080B
数据表
VIHT
VHT
输入
参考点
VHT
产量
VLT
VILT
VLT
1296 IORef.0
AC测试输入在V驱动
IHT
(0.9V
DD
）为一个逻辑“1”和第五
ILT
(0.1V
DD
）为一个逻辑“0”。测量参考点
输入和输出是V
HT
(0.6V
DD
）和V
LT
(0.4V
DD
） 。输入上升和下降时间（ 10 ％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
HT
- V
高
TEST
V
LT
- V
低
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图25 ： AC I
NPUT
/O
安输出
R
指南
W
AVEFORMS
TO测试仪
到DUT
C
L
1296 TstLd.0
图26 ：一件T
美东时间
L
OAD
E
XAMPLE
2006硅存储技术公司
S71296-01-000
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