高温GATE BIAS （ HTGB ）
结温：
TJ =以下规定
VC = Ve的= 0V
VG =指定
N沟道
设备
TYPE
日期
CODE
温度
门
BIAS
(V)
20
20
数量
中频（快速）
失败
实际
TEST
时间
#
模式
（小时）
（注二）
20
2007 0
20
2088 0
40
4095 0
DEV- HRS
@ 90°C
故障率@
90℃ & 60 ％ UCL
FITS
（注一）
2.46E+05
2.56E+05
5.02E+05
3724
3579
1825
IRGPF30F
IRGPC50FD2
（ ℃）
9642
150
9237
150
汇总
N沟道
设备
TYPE
日期
CODE
温度
门
BIAS
(V)
20
20
20
20
数量
高频（超快速）
实际
TEST
时间
（小时）
2008
2008
2213
2039
等效故障率@
失败
DEV- HRS 90℃ & 60 ％ UCL
@ 90°C
模式
FITS
（注二）
（注一）
2.46E+05
3722
2.46E+05
3722
2.71E+05
3377
2.50E+05
3665
1.01E+06
904
#
0
0
0
0
IRGPC40U
IRGPC40U
IRG4PC50U
IRG4PC40UD2
9538
9620
9721
9643
（ ℃）
150
150
150
150
20
20
20
20
80
汇总
8268 0
笔记
a.
b.
一个FIT代表一个十亿（ 1.0E + 09 ）小时一次失败。
故障模式：
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第12页35
