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指数
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PD - 9.1066
IRGB420UD2
绝缘栅双极晶体管
超快软恢复
二极管
特点
开关损耗额定值包括所有"tail"损失
TM
HEXFRED软超快二极管
高操作优化F Characteristic低频（以上为5kHz ）
参见图。 1电流 - 频率曲线
C
超快CoPack IGBT
V
CES
= 500V
V
CE （ SAT ）
≤
2.9V
G
@V
GE
= 15V ，我
C
= 7.5A
E
N沟道
描述
共同封装的IGBT是国际整流器公司的良好的自然延伸
众所周知IGBT线。他们提供了一个IGBT和超快的便利
在一个包中恢复二极管，造成很大的好处到主机的
高电压，大电流，马达控制， UPS及电源应用。
TO-220AB
绝对最大额定值
参数
V
CES
I
C
@ T
C
= 25°C
I
C
@ T
C
= 100°C
I
CM
I
LM
I
F
@ T
C
= 100°C
I
FM
V
GE
P
D
@ T
C
= 25°C
P
D
@ T
C
= 100°C
T
J
T
英镑
集电极 - 发射极电压
连续集电极电流
连续集电极电流
集电极电流脉冲
钳位感性负载电流
二极管连续正向电流
二极管的最大正向电流
门极 - 发射极电压
最大功率耗散
最大功率耗散
工作结
存储温度范围
焊接温度，持续10秒。
安装扭矩， 6-32或M3螺丝。
马克斯。
500
14
7.5
28
28
7.0
28
± 20
60
24
-55到+150
300 （ 0.063英寸（ 1.6毫米）的情况下）
在10磅 （ 1.1牛顿米）
单位
V
A
V
W
°C
热阻
参数
R
θ
JC
R
θ
JC
R
θ
CS
R
θ
JA
Wt
结到外壳 - IGBT
结到外壳 - 二极管
案件到水槽，平面，脂表面
结到环境，典型的插座安装
重量
分钟。
—-
—-
—-
—
—-
典型值。
—-
—-
0.50
—
2 (0.07)
马克斯。
2.1
3.5
—-
80
—-
单位
° C / W
克（盎司）
修订版1
C-617
TO ORDER
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指数
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IRGB420UD2
10
ü TY CL E： 5 0 ％
TJ = 1 2 5℃
牛逼罪K = 9 0 ℃，
克忒 RIV E A S S小P权证IFI E D
ü RN -o LO S S小（E S）在C鲁D E
FFE TS华氏度重; V。E RS电子再度C 0 V ê RY
P 2 O宽E R D所ISS一个IP TIO N = 1 3 W
8
负载电流（A ）
6
6 0 ％ F RA TE
武LTA克é
4
2
0
0.1
1
10
A
100
男，频率（KHz ）
图。 1
- 典型负载电流与频率的关系
（负载电流= I
RMS
基本）
100
100
I
C
，C ollector到-E米特光凭目前 （A ）
I
C
，C欧莱构造函数对-E米itte R C urren T（A ）
10
T
J
= 2 5°C
T
J
= 1 50 °C
T
J
= 1 5 0°C
10
1
T
J
= 2 5°C
0 .1
1
1
V
摹ê
= 15 V
20微秒P UL南东西TH ID
10
0.01
5
10
V
C C
= 1 0 0V
5μ S·P ü LS东西ID
15
20
V
权证
，C llector到EM伊特尔V oltage （ V）
V
摹ê
，G吃了对-E米itte诉 LTA GE （ V）
图。 2
- 典型的输出特性
图。 3
- 典型的传输特性
C-619
TO ORDER
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指数
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IRGB420UD2
15
V
摹ê
= 15 V
4.5
马XIM UM DC ollector urre NT （A ）
V
摹ê
= 15 V
80微秒P UL南东西TH ID
I
C
= 1 5A
V
权证
，C llec到R-到-E米伊特尔V oltage （ V）
4.0
12
3.5
9
3.0
6
2.5
I
C
= 7.5A
2.0
3
I
C
= 4.0 A
1.5
0
25
50
75
100
125
150
1.0
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
100 120 140 160
T
C
，C ASE tem温度（ ° C）
T
C
，C A S éテ米P·EラTURE （ ° C）
图。 4
- 最大集电极电流 -
外壳温度
图。五
- 集电极 - 发射极电压 -
外壳温度
10
牛逼赫姆人响应（Z
日JC
)
1
D = 0.50
0 .2 0
0 .10
0.0 5
P
D M
0.1
0.0 2
0 .01
t
单摹LE P ü LS ê
（ TH ER M AL SP 0：N SE ）
N 2 O TE S：
1 。 ü TY前言与r D =吨
1
/ t
2
1
t2
0.01
0.00001
2 。 P·E A K牛逼
J
= P
D M
X Z
日J·C
+ T C
0.0001
0.001
0.01
0.1
1
10
t
1
中，R ectangular脉冲 uration （秒）
图。 6
- 最大IGBT有效的瞬态热阻抗，结至外壳
C-620
TO ORDER
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指数
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IRGB420UD2
700
20
600
C，C apacitance （PF ）
500
C
IES
400
C
OES
300
V
摹ê
，G一德以诚-E米伊特尔V olta GE （ V）
V
GE
= 0V,
F = 1MHz的
C
IES
= C
ge
+ C
gc
, C
ce
短
C
水库
= C
gc
C
OES
= C
ce
+ C
gc
V
权证
= 40 0V
I
C
= 7.5A
16
12
8
200
C
水库
100
4
0
1
10
1 00
0
0
4
8
12
16
V
权证
，C ollector到-E米伊特尔V oltage （ V）
Q
G
，T TAL G A TE建华一RG E（N C）
图。 7 -
典型的电容比。
集电极 - 发射极电压
图。 8
- 典型栅极电荷主场迎战
门极 - 发射极电压
0.53
10
总的开关损耗（兆焦耳）
总的开关损耗（兆焦耳）
V
CC
V
GE
T
C
I
C
= 480V
= 15V
= 25°C
= 7.5A
R
G
= 50
V
GE
= 15V
V
CC
= 400V
I
C
= 15A
0.52
1
I
C
= 7.5A
I
C
= 4.0A
0.51
0.50
0
10
20
30
40
50
A
60
0.1
-60
-40
-20
0
20
40
60
80
A
100 120 140 160
R
G
，栅极电阻（ Ω ）
T
C
，外壳温度（ ° C）
图。 9
- 典型的开关损耗与门
阻力
图。 10
- 典型的开关损耗与
外壳温度
C-621
TO ORDER
介绍
可靠性报告是由于整理的试验数据的汇总
实施可靠性程序。这份报告将定期
通常更新每季。这份报告对未来出版物将
也包括适当的其他信息，以帮助用户在
解释提供的数据。该计划仅涵盖IGBT /
CoPack制造的产品在IRGB ，荷兰路， Oxted 。该
本报告所提供的可靠性数据的封装类型和TO247
TO220.
在红外数据手册提供有关可靠性数据的详细信息
IGBT - 3 ，页E- 65 -E - 72 。这也可从Oxted办公室。
可靠性工程_____________________________________
质量经理
日期
_____________________________________
_____________________________________
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第35 3
FIT率/等效器件小时
传统上，结果的可靠性已经在平均时间对故障方面介绍
或中位数，时间到失败。虽然这些结果有其价值，他们不
一定告诉他最需要知道的设计师。例如， Median-
时间到失败告诉工程师也需要多长时间半特定不少
设备出现故障。显然，没有设计师希望有一个内有50 ％的失败率
合理的设备的使用寿命。的更大的兴趣，因此，是时候的故障
设备的比例要小得多说的1 ％或0.1 ％ 。例如，在一个给定的
每百单位申请一次失败在五年内是可以接受的失败率
对于设备，设计者知道时间积累的一个1 ％的失败
每单元组件，则组件的不超过0.1 ％，可以在5失败
年。因此，在IGBT / CoPack可靠性或操作寿命的数据被呈现在
的时间上，将采取产生故障的规定数量下给出
操作条件。
以获得的故障率从一个例子的透视，让我们假设一个
电子系统包含1000半导体器件，并能耐受1％
每月的系统故障。该方程为设备故障是：
λ
=允许的比例系统故障
时间段
在该示例的情况下，
λ
=
0.01故障
720小时
X
1
设备号
X
10
9
=
FITS
X
1
1000设备
=
10
9
=
14 FITS
或14或适合每10 14失败
9
设备的时间。
IGBT / CoPack
季报可靠性报告
第35 5
QQ：2881677436 复制
