ADF4157

测试寄存器（ R4 ）地图

与R 3 [2 ， 1,0 ]设定为[1 ， 0,0 ] ，芯片上的测试寄存器（R 4）是

编程为，如图21所示。

保留位

DB [ 31 ：3]应在该寄存器中被设置为0 。

控制

位

版权所有

DB31 DB30 DB29 DB28 DB27 DB26 DB25 DB24 DB23 DB22 DB21 DB20 DB19 DB18 DB17 DB16 DB15 DB14 DB13 DB12 DB11 DB10 DB9 DB8 DB7 DB6 DB5 DB4 DB3 DB2 DB1 DB0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

0

C3(1) C2(0) C1(0)

这些位设置为0

图21.测试寄存器（ R4 ）地图

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