ADSP-BF531/ADSP-BF532
测试条件
出现在本数据表中的所有时序参数都是测
本节所述的条件下sured 。
图36
显示了交流测量的测量点（除输出
把启用/禁用） 。测量点V
MEAS
为1.5 V的
V
DDEXT
（标称值） = 2.5 V / 3.3 V
输入
OR
产量
例如系统保持时间计算
为了确定在一个特定的系统中的数据输出保持时间为
首先计算吨
衰变
利用上面给出的等式。选择
V
是ADSP -BF531 / ADSP- BF532的区别
处理器的输出电压和用于输入门限
设备要求的保持时间。
L
是总的总线电容
（每条数据线） ，并且我
L
是总泄漏或三态电流
（每条数据线）。该保持时间将吨
衰变
再加上各种输出
放失效时间作为指定
时序规格
第22页
（例如吨
DSDAT
对于SDRAM写周期如图所示
in
SDRAM接口时序上的第26页） 。
V
MEAS
V
MEAS
图36.参考电压等级交流
测量（除输出使能/禁用）
参考
信号
输出使能时间测量
输出引脚被认为是使能时，他们已作出
从高阻抗状态的点的过渡时
开始驾驶。
输出使能时间t
ENA
是从点的时间间隔，当一个
参考信号达到高或低电压电平到所述点
当输出开始右侧驾驶如图所示
图37 。
时间t
ENA
_
测
为间隔，从基准时显
纳尔开关，当输出电压达到V
旅
（高）或
V
旅
（低） 。 V
旅
（高）为2.0 V和V
旅
（低）为1.0 V的V
DDEXT
（标称值） = 2.5 V / 3.3 V时刻t
旅
距离时的时间间隔的
输出开始驱动时输出达到V
旅
（高）
或V
旅
（低）触发电压。
时间T
ENA
所示计算公式中：
t
ENA
=
t
ENA_MEASURED
–
t
旅
如果多个引脚（例如数据总线）被启用时，测量
精神疾病的价值在于，所述第一销的开始驱动。
t
DIS_MEASURED
t
DIS
V
OH
（测定）
V
OL
（测定）
t
ENA_MEASURED
t
ENA
V
OH
（测定）
V
V
OH
（测定）
V
旅
（高）
V
旅
（低）
V
OL
（测定）
V
OL
（实测） + V
t
衰变
t
旅
输出停止驱动
输出开始驱动
高阻抗状态
图37.输出使能/禁用
50
V
负载
TO
产量
针
30pF
输出禁止时间测量
输出引脚被认为是当他们停止driv-被禁用
荷兰国际集团，进入高阻抗状态，并从开始腐烂了
输出高电平或低电平电压。输出禁止时间t
DIS
为
吨之间的区别
DIS
_
测
和T
衰变
如图所示的左侧
of
图36 。
t
DIS
=
t
DIS_MEASURED
–
t
衰变
的时间由该总线上的电压衰减
V
依赖
对容性负载C
L
和负载电流I
L
。这种衰减时间
可以近似由下式：
t
衰变
=
(
C
L
V
)
I
L
时间t
衰变
计算与试验载荷
L
我
L
，并用
V
等于0.5 V的V
DDEXT
（标称值） = 2.5 V / 3.3 V
时间t
DIS
_
测
是从基准时的间隔显
纳尔开关，以当所述输出电压衰减
V
从
测量输出高电平或低电平输出电压。
交流测量图38.等效设备加载
（包括所有照明灯）
容性负载
输出延迟，并拥有基于标准容性负载：
30 pF的所有引脚（见
图38）。
V
负载
为1.5 V的V
DDEXT
（公称
NAL ） = 2.5 V / 3.3 V
在第44页图39
通过
图46
第45页
显示输出上升时间与电容的变化情况。该
延迟和保持应该给出一个系数会减小规格
来自于这些图中。在这些图中的曲线图可以不
所示的范围之外是线性的。
版本C |
第43页60 |
2006年5月
