73K321L
CCITT V.23 ， V.21
单芯片调制解调器
不同于数字逻辑电路，调制解调器设计必须
用精确的频率公差正确抗衡
和非常低的电平的模拟信号，以确保
可接受的性能。用良好的模拟电路
设计手法通常会导致声音
设计。以下是补充建议
应考虑到当
开始新的设计。
晶体振荡器
K系列晶体振荡器需要一个并行
模式（反）晶体工作在
11.0592兆赫。这个频率是很重要
保持在± 0.01 ％的精度。
为了使一个并行模式晶体操作
正确和说明书中，它必须有一个负载
电容器连接到每一个的交界处
晶振和内部逆变器连接，终止
到地面。这些电容的值取决于
主要是在晶体的特性，并以一
程度较轻的内部逆变器电路。该
使用的值影响精度和启动
振荡器的特性。
布局的注意事项
良好的模拟/数字设计规则，必须使用
为了获得最高的控制系统的噪音
表现在现代设计中。更多的数字
电路上存在印刷电路板，所述多个本
注意噪音控制是必要的。调制解调器
应被视为一个高阻抗模拟
装置。并联一个22 μF电解电容与
VDD和GND之间的0.1 μF陶瓷电容
值得推荐。自由使用接地层和
是在电源和接地较大的痕迹还高度
青睐。高速数字电路中往往会产生
一个显著量的EMI （电磁
干扰），必须以最小化，以
满足监管机构的限制。为了完成
对此，高速数字设备应该在本地
旁路，电话线接口和
K- Series设备应放置在靠近每个
其他的董事会，其中手机的区域附近
线连接进行访问。为了避免出现问题，
电源线和地线应连接
分别对所述的模拟和数字功能
板，和数字信号不应靠近路由
低级别或高阻抗模拟走线。该
模拟地和数字地应只在连接
一个点附近的K系列器件接地引脚来
避免接地回路。 K系列调制解调器IC的
应该有高频和低频
绕过为靠近封装成为可能。
调制解调器的性能
特征
这里介绍的曲线定义的调制解调器IC
在各种线路条件而表现
诱导的干扰是典型的那些
公共数据的传输过程中遇到的
服务电话线路。使用测试数据取
的AEA电子的“自动测试I”调制解调器测试集和
线模拟器，在计算机控制下运行。所有
测试运行全双工，使用协和数据
系统224为基准的调制解调器。 511
伪随机位模式被用于每个数据
点。
噪音是C-消息加权和所有
信噪（S / N）的比率反映了总功率
测量类似的CCITT V.56
测量规范。个人测试
定义如下。
BER VS. S / N
该试验测量的调制解调器来的能力
工作在嘈杂的行用最少的数据 -
传输错误。由于产生一些噪音
最好的拨号线，调制解调器必须操作
用最低的S / N比可能的。更好的调制解调器
性能由试验曲线是表示
最接近的BER轴。之间的价差窄
代表四个行参数曲线
表示性能的同时，最小变动
经营的范围内异常的操作
条件。典型地，一个DPSK调制解调将表现出
接收中的更好的BER性能试验曲线
低频段相比高频段。
BER VS.接收电平
该试验测量的动态范围
调制解调器。由于信号电平有很大的不同了拨号
向上线，尽可能广泛的动态范围
可取的。最低贝尔规范要求
36分贝的动态范围。的S / N比被保持
恒定在所指示的值而获得
电平从一个非常高的，以非常低的信号下降
的水平。的“碗”这些曲线的宽度，取
在BER点，是动态范围的量度。
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