ADG781/ADG782/ADG783
测试电路
I
DS
I
S
（关闭）
A
S
V
S
R
ON
= V1 / I
DS
D
V
S
S
D
I
D
（关闭）
A
V
D
NC =无连接
NC
V1
S
D
I
D
（上）
A
V
D
测试电路1.电阻
V
DD
0.1 F
测试电路2.关闭泄漏
测试电路3.在漏
V
IN
ADG781
V
DD
50%
50%
S
V
S
IN
GND
D
R
L
300
C
L
35pF
V
IN
ADG782
V
OUT
50%
V
S
50%
90%
V
OUT
90%
t
ON
t
关闭
测试电路4.开关时间
V
DD
0.1 F
V
IN
0V
50%
50%
V
DD
V
S1
V
S2
IN1，IN2
S1
S2
D1
D2
R
L2
300
C
L2
35pF
V
OUT2
R
L1
300
C
L1
35pF
V
OUT1
V
OUT1
0V
90%
90%
V
IN
ADG783
GND
V
OUT2
90%
0V
90%
t
D
t
D
测试电路5.先开后合做延时，T
D
V
DD
V
DD
R
S
V
S
IN
GND
S
D
C
L
1nF
V
OUT
SW ON
V
IN
SW OFF
V
OUT
Q
INJ
= C
L
V
OUT
V
OUT
测试电路6.电荷注入
V
DD
0.1 F
网
分析仪
网
分析仪
D1
V
OUT
S
IN
D
V
IN
GND
R
L
50
V
OUT
50
50
V
S
50
V
S
IN
GND
通道到通道
V
串扰= 20日志
OUT
V
S
R
L
50
S2
D2
R
L
50
0.1 F
V
DD
V
DD
V
DD
S1
NC
关断隔离= 20日志
V
OUT
V
S
测试电路7.关断隔离
测试电路8通道至通道串扰
REV 。一
–7–
