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M29F002T ， M29F002NT ， M29F002B
表11. AC测量条件
高速
输入上升和下降时间
输入脉冲电压
输入和输出时序参考。电压
≤
10ns
0至3V
1.5V
标准
≤
10ns
0.45V至2.4V
0.8V和2V
图4. AC测试输入输出波形
图5. AC测试负载电路
1.3V
高速
3V
1.5V
0V
设备
下
TEST
2.0V
0.8V
AI01275B
1N914
3.3k
标准
2.4V
OUT
CL
0.45V
CL = 30pF的高速
CL = 100pF的标准
CL INCLUDES夹具电容
AI01276B
表12.电容
(1)
(T
A
= 25
°
C，F = 1兆赫）
符号
C
IN
C
OUT
参数
输入电容
输出电容
测试条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
民
最大
6
12
单位
pF
pF
注意：
1.采样只，而不是100 ％测试。
自动选择（ AS ）指令。
该指令
采用后面是一个写两个编码周期
循环使命令90H到555H地址为
命令设置。 Asubsequentread将输出
制造商代码，设备代码或
视的水平块保护状态
A0和A1 。制造商代码， 20H ，输出
当地址线A0和A1是低，则
设备代码时，输出A0为高配A1低。
在AS指令也允许访问该块
protectionstatus 。 givingthe为指导， A0后
被设定为V
IL
与A1在V
IH
，而A13 -A17定义
该块的地址，以进行验证。在读
这些条件将输出01H ，如果该块是
保护，如果块没有保护的00H 。
程序（ PG ）指令。
该指令使用
4写周期。该计划的命令是的A0h
写了两个后处理555H在第三周期
编码周期。第四个写操作锁存
地址上的W或E与数据的下降沿
将要写入的上升沿，并开始
P / E.C 。读操作输出状态寄存器
编程后位开始。内存
编程是通过写代替“0”只发
'1'。状态位DQ6和DQ7确定编程
明通goingand DQ5可以验证任何
可能的错误。编程在未在一个地址
被擦除的块，也可以在擦除
暂停。在这种情况下， DQ2将切换在AD-
穿着被编程。
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