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8XC196KC 8XC196KC20
AC特性
（续）
对于用户在规定的工作条件
所有引脚测试条件容性负载
e
100 pF的上升和下降时间
e
10纳秒F
OSC
e
16兆赫
该80C196KC将符合这些规格
符号
F
XTAL
F
XTAL
T
OSC
T
OSC
T
XHCH
T
CLCL
T
CHCl 3
T
CLLH
T
LLCH
T
LHLH
T
LHLL
T
AVLL
T
LLAX
T
LLRL
T
RLCL
T
RLRH
T
RHLH
T
RLAZ
T
LLWL
T
CLWL
T
QVWH
T
CHWH
T
WLWH
T
WHQX
T
WHLH
T
WHBX
T
WHAX
T
RHBX
T
RHAX
描述
在晶振频率
(8XC196KC)
在晶振频率（ 8XC196KC20 ）
I F
XTAL
(8XC196KC)
I F
XTAL
(8XC196KC20)
XTAL1高到CLKOUT高或低
CLKOUT周期时间
CLKOUT高发期
CLKOUT下降沿到ALE崛起
ALE下降沿到CLKOUT上升
ALE周期时间
ALE高发期
地址设置到ALE下降沿
ALE的下降沿后地址保持
ALE下降沿到RD下降沿
RD低到CLKOUT下降沿
RD低潮期
RD上升沿到ALE上升沿
RD低到地址浮
ALE下降沿到WR下降沿
CLKOUT低到WR下降沿
数据稳定WR上升沿
CLKOUT高到WR上升沿
WR低潮期
WR上升沿后数据保持
WR上升沿到ALE上升沿
WR上升沿后BHE INST
AD8 - 15 HOLD WR上涨后
RD上升沿之后BHE INST
AD8 - 15 HOLD RD上涨后
T
OSC
b
10
0
T
OSC
b
23
b
5
a
15
a
25
民
8
8
62 5
50
a
20
最大
16
20
125
125
a
110
单位
兆赫
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
笔记
（注1 ）
（注1 ）
2 T
OSC
T
OSC
b
10
b
5
b
20
T
OSC
a
15
a
15
a
15
4 T
OSC
T
OSC
b
10
T
OSC
b
15
T
OSC
b
35
T
OSC
b
30
a
4
a
30
（注4 ）
T
OSC
a
10
ns
ns
ns
ns
ns
T
OSC
a
25
a
5
T
OSC
b
5
T
OSC
（注4 ）
（注2 ）
ns
ns
ns
ns
（注4 ）
ns
ns
ns
T
OSC
a
15
ns
ns
ns
ns
ns
（注3）
（注3）
（注2 ）
（注4 ）
T
OSC
b
20
T
OSC
b
25
T
OSC
b
10
T
OSC
b
10
T
OSC
b
30
T
OSC
b
10
T
OSC
b
25
笔记
1测试执行频率为8 MHz但是设备是静态的设计和小于1 Hz的典型操作
2假设背到背总线周期
只有3个8位总线
4如果等待状态用于添加2个T
OSC
N，其中N
e
等待状态的数量
12
