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SN54ABT18504 ， SN74ABT18504
与扫描测试设备
20位通用总线收发器
SCBS108B - 1992年8月 - 修订1993年6月
SN74ABT18504 。 。 。 PM PACKAGE
（ TOP VIEW ）
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
A4
A5
A6
GND
A7
A8
A9
A10
V
CC
A11
A12
A13
GND
A14
A15
A16
A3
A2
A1
GND
OEBA
LEBA
TDO
V
CC
TMS
CLKBA
CLKENBA
B1
GND
B2
B3
B4
1
2
3
4
5
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B5
B6
B7
GND
B8
B9
B10
V
CC
B11
B12
B13
B14
GND
B15
B16
B17
描述
与20位通用总线收发器SN54ABT18504和SN74ABT18504扫描测试设备
德州仪器范围成员
可测试性IC系列。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问
该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型
触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。测试电路可通过激活
TAP取数据的快照样本出现在器件引脚或边界上执行自检
测试电池。激活TAP在正常模式下，不影响示波器的功能操作
通用总线收发器。
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
时钟使能（ CLKENAB和CLKENBA ）和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
设备工作在透明模式时LEAB高。当LEAB为低电平时， A总线的数据被锁存，而
CLKENAB是高和/或CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。否则，如果LEAB是低和
CLKENAB低， A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB为低电平时， B输出
是活动的。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B对一个数据流是类似于
A到B的数据流量，而是使用OEBA ， LEBA ， CLKENBA和CLKBA投入。
在测试模式下，正常的范围的操作
通用总线收发器被禁止，并且测试
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
2
A17
A18
A19
GND
A20
CLKENAB
CLKAB
TDI
V
CC
TCK
LEAB
OEAB
GND
B20
B19
B18
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
