SN54ABT18504 ， SN74ABT18504
与扫描测试设备
20位通用总线收发器
SCBS108B - 1992年8月 - 修订1993年6月
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
德州仪器成员
Widebus
家庭
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和
边界扫描结构
UBT
（通用总线收发器）
联合收割机D类锁存器和D- TYPE
触发器的操作透明，
锁存或时钟模式
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
范围
指令集
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST和
P1149.1A CLAMP和HIGHZ
- 在输入并行信号分析随着
蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 设备标识
- 偶校验操作码
封装在64引脚塑料薄型四方扁平
包使用0.5毫米中心到中心
间距和68引脚陶瓷四方扁平
包使用25密耳的中心到中心
间距
SN54ABT18504 。 。 。 HV封装
（ TOP VIEW ）
9
8 7
A1
GND
OEBA
LEBA
TDO
V
CC
NC
TMS
CLKBA
CLKENBA
B1
GND
B2
B3
B4
6
5 4 3
2 1 68 67 66 65 64 63 62 61
60
59
58
57
56
55
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
A4
A5
A6
GND
A7
A8
A9
A10
NC
V
CC
A11
A12
A13
GND
A14
A15
A16
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43
A3
A2
B5
B6
B7
GND
B8
B9
B10
V
CC
NC
B11
B12
B13
B14
GND
B15
B16
B17
A17
A18
A19
GND
A20
CLKENAB
CLKAB
TDI
NC
NC - 无内部连接
VCC
SCOPE ， Widebus ， UBT和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
除非另有说明这个文件包含了生产
数据信息为出版日期。产品符合
每德州仪器标准保修条款的规范。
生产加工并不包括所有的测试
参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
TCK
LEAB
OEAB
GND
B20
B19
B18
版权
1993年，德州仪器
1
SN54ABT18504 ， SN74ABT18504
与扫描测试设备
20位通用总线收发器
SCBS108B - 1992年8月 - 修订1993年6月
SN74ABT18504 。 。 。 PM PACKAGE
（ TOP VIEW ）
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
A4
A5
A6
GND
A7
A8
A9
A10
V
CC
A11
A12
A13
GND
A14
A15
A16
A3
A2
A1
GND
OEBA
LEBA
TDO
V
CC
TMS
CLKBA
CLKENBA
B1
GND
B2
B3
B4
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
B5
B6
B7
GND
B8
B9
B10
V
CC
B11
B12
B13
B14
GND
B15
B16
B17
描述
与20位通用总线收发器SN54ABT18504和SN74ABT18504扫描测试设备
德州仪器范围成员
可测试性IC系列。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描访问
该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型
触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。测试电路可通过激活
TAP取数据的快照样本出现在器件引脚或边界上执行自检
测试电池。激活TAP在正常模式下，不影响示波器的功能操作
通用总线收发器。
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
时钟使能（ CLKENAB和CLKENBA ）和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
设备工作在透明模式时LEAB高。当LEAB为低电平时， A总线的数据被锁存，而
CLKENAB是高和/或CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。否则，如果LEAB是低和
CLKENAB低， A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB为低电平时， B输出
是活动的。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B对一个数据流是类似于
A到B的数据流量，而是使用OEBA ， LEBA ， CLKENBA和CLKBA投入。
在测试模式下，正常的范围的操作
通用总线收发器被禁止，并且测试
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
2
A17
A18
A19
GND
A20
CLKENAB
CLKAB
TDI
V
CC
TCK
LEAB
OEAB
GND
B20
B19
B18
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达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT18504 ， SN74ABT18504
与扫描测试设备
20位通用总线收发器
SCBS108B - 1992年8月 - 修订1993年6月
描述（续）
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），
测试数据输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路可以执行
其他测试功能，例如对数据的输入和伪随机模式生成并行签名分析
从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
附加的灵活性是通过为每个使用两个边界扫描单元（基站控制器）的设置在测试模式
I / O引脚。这允许独立的测试数据被捕获，并被迫在任一总线（ A或B） 。一个PSA / COUNT
指令还包括以缓解内存和其他电路的测试，其中一个二进制数的寻址
方案是有用的。
该SN54ABT18504的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。
该SN74ABT18504的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式下，每个寄存器）
输入
OEAB
L
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
L
H
H
X
CLKENAB
L
L
L
H
X
X
X
CLKAB
L
↑
↑
X
X
X
X
A
X
L
H
X
L
H
X
产量
B
B0
L
H
B0
L
H
Z
表示A到B的数据流。 B-到一个数据流是相似的，但使用OEBA ，
LEBA ， CLKENBA和CLKBA 。
=输出电平指示的稳态输入条件之前
确立。
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3
SN54ABT18504 ， SN74ABT18504
与扫描测试设备
20位通用总线收发器
SCBS108B - 1992年8月 - 修订1993年6月
功能框图
边界扫描寄存器
CLKENAB
LEAB
22
27
CLKAB
23
28
OEAB
CLKENBA
LEBA
54
59
CLKBA
55
OEBA
60
1 20个频道
C1
1D
A1
62
C1
1D
C1
1D
C1
1D
53
B1
旁路寄存器
边界控制
注册
鉴定
注册
VCC
24
VCC
56
龙头
调节器
58
指令
注册
TDO
TDI
TMS
TCK
26
显示引脚数是对PM包。
4
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SN54ABT18504 ， SN74ABT18504
与扫描测试设备
20位通用总线收发器
SCBS108B - 1992年8月 - 修订1993年6月
终端功能
引脚名称
A1 – A20
B1 – B20
CLKAB ， CLKBA
CLKENAB ，
CLKENBA
GND
LEAB ， LEBA
OEAB ， OEBA
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟输入。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的时钟使能。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能的锁存使能。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的输出使能。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。该装置的测试操作是同步的
测试时钟。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。测试数据输入是用于移位的串行输入
通过指令寄存器或数据选择的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。测试数据输出是用于移位的串行输出
通过指令寄存器或数据选择的数据寄存器。
测试模式选择。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。在测试模式选择输入指示装置
通过测试访问端口（ TAP）控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
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达拉斯，德克萨斯州75265
5
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