DG506A ， DG507A ， DG509A
测试电路和波形
（续）
t
r
＆ LT ;为20ns
t
f
＆ LT ;为20ns
50%
t
OFF （ EN ）
3V
EN
0V
t
ON （ EN ）
0V
50%
0.1V
O
开关
产量
V
O
V
O
0.9V
O
图2C 。测量点
图2.使能时间
+2.4V
V+
EN
所有的S和D
A
DG506A
DG507A
（注）
+5V (V
S
)
逻辑
输入
0V
3V
t
r
＆ LT ;为20ns
t
f
＆ LT ;为20ns
+15V
A
0
A
1
V
S
A
2
A
3
GND
50
-15V
D
B
V-
1k
35pF
开关
产量
V
O
开关
产量
V
O
0V
t
开放
50%
50%
逻辑
输入
注： DG509A类似的连接。
图3A 。测试电路
图3B 。测量点
图3.先开后合做区间
+15V
V+
EN
DG506A
A
3
A
2
A
1
A
0
逻辑
输入
GND
V-
1000pF
-15V
-15V
D
V
O
S
1
A
2
A
1
A
0
逻辑
输入
GND
D
A
或D
B
V-
1000pF
V
O
S
1A
, S
1B
EN
DG507A
（注）
V+
+15V
.
图4A 。 DG506A测试电路
注： DG509A类似的连接。
图4B 。 DG507A测试电路
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