DG506A ， DG507A ， DG509A
测试电路和波形
+2.4V
+15V
V+
EN
A
3
A
2
A
1
逻辑
输入
50
-15V
A
0
GND
S
16
-10V
开关
产量
V
O
1M
35pF
DG506A
S
1
+10V
EN
+2.4V
+15V
V+
DG507A S
1B
（注）
+10V
S
2
直通S
15
S
1A
直通S
8A ,
D
A
S
2B
和S
7B
A
2
A
1
逻辑
输入
50
-15V
A
0
GND
S
8B
-10V
开关
产量
V
O
1M
35pF
D
V-
D
B
V-
注： DG509A类似的连接。
图1A 。 DG506A测试电路
图1B 。 DG507A测试电路
3V
逻辑输入
50%
0
V
S1
S
1
ON
0.8V
S1
开关
产量
V
O
t
r
＆ LT ;为20ns
t
f
＆ LT ;为20ns
0
0.8V
S8
V
S8
S
8
ON
过渡
时间
过渡
时间
图1C 。测量点
图1.开关时间
+15V
V+
EN
DG506A
A
3
A
2
A
1
A
0
EN
50
GND
V-
-15V
D
1k
开关
产量
V
O
EN
35pF
50
S
2
直通S
16
A
0
A
1
A
2
GND
D
B
V-
-15V
1k
开关
产量
V
O
35pF
S
1
-5V
EN
DG507A
（注）
S
1A
直通S
8A
,
D
A
,
S
2B
直通S
8B
V+
S
1B
-5V
+15V
图2A 。 DG506A测试电路
注： DG509A类似的连接。
图2B 。 DG507A测试电路
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