DDC114
SBAS255A - 2004年6月 - 修订2004年11月
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DDC114频率响应
该DDC114的频率响应是由前面设置
最终集成商和是一个传统的连续时间
积分器，如图7，通过调节
INT
中，
用户可以更改3dB带宽和的位置
槽口中的响应。的频率响应
Σ
转换器后面的前端积分器是无
结果，因为该转换器采样保持的
从集成的信号。即，输入到
Σ
转换器始终是一个直流信号。由于在输出
前端集成商进行采样，混叠可以发生。
当输入信号的频率超过
二分之一的采样率时，信号将折回向下
到较低的频率。
0
10
20
30
40
50
0.1
T
INT
1
T
INT
频率
10
T
INT
100
T
INT
测试模式
当测试模式时，该输入端（ IN1，IN2 ，IN3 ，并且
IN4 ）从DDC114集成商断开连接
使用户无论以测量一个零输入信号
的电流的供给到输入端。的，此外，包
电荷可转移到在11pC积分
时间间隔测量的非零值。在测试模式
可工作在连续和不连续的
模式。为测试模式的时序图中示出
图8用表2中给出的时序规范。
进入测试模式下，按住TEST高，而CONV
转场。如果测试的是整个过程中保持高
积分周期，积分器测量一个零值。
此模式可用于帮助调试设计或执行
诊断测试。为了测试过程中施加充电包
模式，只需闪灯测试低再高先下一
CONV过渡。的测试导致每个上升沿
大约电荷11pC要传送到
集成商。此电荷转移是独立的
积分时间。在测试模式数据检索
相同的正常操作。要退出测试模式，采取
TEST低，允许若干个周期才能退出后
使用该数据。
摹AIN （分贝）
图7.频率DDC114响应
测试模式被禁用
测试模式启用：输入端断开
0PC为B
11pC为A
22pC为B
33pC为A
测试模式被禁用
行动
结合B
整合
结合B
整合
CONV
t
4
TEST
t
1
t
3
t
5
t
4
t
6
t
2
在DDC114的测试模式图8.时序图
表2.定时在测试模式中DDC114
符号
t1
t2
t3
t4
t5
t6
描述
为测试模式使能建立时间
为测试模式禁止设置时间
保持时间的测试模式使能
从瑞星测试边沿到CONV的边缘，而测试模式
启用
下降沿测试上升沿
上升沿到测试下降沿
民
100
100
100
1
1
1
典型值
最大
单位
ns
ns
ns
s
s
s
12
