ISL84780
测试电路和波形
V+
V+
逻辑
输入
50%
0V
t
关闭
开关
输入V
NO
90%
开关
产量
0V
t
ON
V
OUT
90%
开关
输入
t
r
＆ LT ;为5ns
t
f
＆ LT ;为5ns
NO或NC
COM
IN
逻辑
输入
GND
R
L
50
C
L
35pF
V
OUT
C
逻辑输入波形被反转为具有相对的开关
逻辑感。
重复测试所有开关。
L
包括网络连接夹具和杂散
电容。
R
L
V
OUT
=
V（ NO或NC ）
------------------------------
R
L
+
R
(
ON
)
图1B 。测试电路
图1A 。测量点
图1.开关时间
V+
C
开关
产量
V
OUT
V
OUT
R
G
NO或NC
COM
V
OUT
V+
逻辑
输入
ON
关闭
0V
Q =
V
OUT
乘C
L
ON
V
G
GND
IN
C
L
逻辑
输入
图2A 。测量点
图2.电荷注入
图2B 。测试电路
V+
C
V+
逻辑
输入
0V
V
NX
NO
COM
NC
V
OUT
R
L
50
C
L
35pF
IN
开关
产量
V
OUT
90%
0V
t
D
逻辑
输入
GND
C
L
INCLUDES夹具和杂散电容。
图3A 。测量点
图3.先开后抓紧时间
图3B 。测试电路
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FN6099.1
2004年12月27日
