MVTX2604
球没有（S ）
E29
B28
C28
D28
E28
A27
B27
C27
D27
C26
D26
D25
D24
E24
测试设备
U3 ， C10
T_MODE0,
T_MODE1
I / O- TS
符号
LED_BIT/TSTOUT2
G1_RXTX#/TSTOUT
3
G1_DPCOL#/TSTO
UT4
G1_LINK#/TSTOUT
5
G2_RXTX#/TSTOUT
6
G2_DPCOL#/TSTO
UT7
G2_LINK#/TSTOUT
8
INIT_DONE / TSTOU
T9
INIT_START / TSTOU
T10
CHECKSUM_OK / TS
TOUT11
FCB_ERR / TSTOUT
12
MCT_ERR / TSTOUT
13
BIST_IN_PRC / TSTO
UT14
BIST_DONE / TSTOU
T15
I / O
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
I / O- TS与拉
描述
数据表
LED串行数据输出流
LED为千兆端口1 （接收+
传送）
LED为千兆端口1 （全双工+
碰撞）
LED为千兆端口1
LED为千兆端口2 （接收+
传送）
LED为千兆端口2 （全双工+
碰撞）
LED为千兆端口2
系统启动运行
启动初始化
EEPROM读取OK
FCB内存自检失败
MCT内存自检失败
处理内存自检
内存自检完成
测试针
00 - 测试模式 - 在设置模式
复位，并且提供的NAND树测试
在测试模式下输出
01 - 保留 - 不要使用
10 - 保留 - 不要使用
11 - 正常模式。使用外部上拉
最多为正常模式
扫描启用
1 - 启用测试模式
0 - 正常模式（开）
F3
E27
SCAN_EN
scanmode
输入上拉下来
输入上拉下来
130
卓联半导体公司
