ABM-3G
PXF 4333 V1.1
测试模式
总共有n = 572的扫描单元。所需的测试模式通过串行加载一个4位
指令代码到通过TDI指令寄存器（低位在前） 。
EXTEST
用于检查主板上的设备的互连。在本试验中
模式，在第一所有输入引脚捕获当前级别上的相应的外部
互连线，而所有输出管脚被保持在恒定值（'0'或'1'） 。然后，
边界扫描的内容被转移到TDO。同时下一个扫描
载体是从TDI加载。随后所有输出管脚根据新的更新的
边界扫描的内容，所有的输入引脚再次捕获当前外部电平
之后，等等。
INTEST
支持芯片的内部测试;即，输出引脚捕获当前水平
而对所有的输入引脚对应的内线保持在恒定值（ '0'
或'1'） 。将得到的边界扫描矢量移位到TDO。接下来的测试向量是
通过TDI串行加载。然后，所有的输入引脚被更新为以下的试验周期。
采样/预
是一个测试模式，该模式中提供销水平的快照
正常操作。
IDCODE ：
32位识别寄存器通过TDO串行读出。它包含的
的版本号（4位） ，设备代码（16位）和制造商码（11位）。
LSB固定为“1” 。
标准模式
ID代码字段被设置为：
VERSION
产品型号
生产厂家
: 1
H
: 07F0
H
: 083
H
（包括LSB的顺序，其被固定为“1” ）
备用模式
ID代码字段被设置为
VERSION
产品型号
生产厂家
: 1
H
: 07F0
H
: 083
H
（包括LSB的顺序，其被固定为“1” ）
注：由于测试逻辑复位状态代码“0011”被自动加载到
指令寄存器， ID码可以很容易地在Shift DR状态下读出。
BYPASS ：
有点TDI进入之后一个TCK时钟周期转移到TDO 。
钳
允许从确定的信号从元件引脚驱动的状态
边界扫描寄存器中，而将旁路寄存器被选择作为串行路径
之间TDI和TDO 。从ABM -3G驱动信号不会同时改变
CLAMP指令被选择。
高阻
将所有的系统输出为无效驱动状态。
数据表
357
2001-12-17
