ABM-3G
PXF 4333 V1.1
测试模式
9
测试模式
测试访问端口（TAP ）的ABM- 3G中实现的。咨询方案的重要组成部分
是控制的不同操作模式的有限状态机（ 16种状态）
边界扫描。无论是TAP控制器和边界扫描满足的要求
通过JTAG标准： IEEE 1149.1 。
图9-1
提供有关技术咨询概述
控制器。
测试访问端口（ TAP ）
TCK
时钟
时钟发生器
时钟
1
2
识别扫描（32位）
引脚
TRST
TMS
TEST
控制
TAP控制器
控制
公共汽车
TDI
DATA IN
- 有限状态机
- 指令寄存器（ 4位）
- 测试信号发生器
边界扫描（N位）
n
RESET
.
.
.
ID数据出
SS数据
OUT
.
.
.
TDO
启用
数据输出
图9-1
测试访问端口的框图和边界扫描单元
如果没有边界扫描操作计划， TRST必须与V连接
SS
。 TMS和
TDI不需要被连接，因为上拉晶体管保证在这个高输入电平
情况。然而，这是很好的做法，将未使用的输入设置为定义的级别。
在这种情况下，如果在JTAG不使用：
TMS = TCK ='1'被推荐。
试验处理（边界扫描操作）通过销TCK （测试时钟）来进行，
TMS（测试模式选择） ，TDI （测试数据输入）和TDO （测试数据输出）的时候
TAP控制器不能在复位状态;即， TRST被连接到
V
DD3
或者它仍然
未连接，由于其内部上拉了起来。在TDI的测试数据被写入的时钟信号
连接到TCK 。 '1'或TMS基准“0”使得从一个控制器状态的过渡
另一种; TMS基准常数“1”导致芯片的正常工作。
输入引脚（ I）使用一个边界扫描单元（数据） ;输出引脚（ O）使用两个细胞
（数据输出，使能） ;和一个I / O引脚（ I / O）使用三种细胞（中的数据，数据输出，使能） 。记
在ABM -3G的大多数功能输出和输入引脚测试作为I / O引脚
边界扫描，从而使用三个单元。在ABM -3G的边界扫描单元包含
数据表
356
2001-12-17
