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JTAG测试,端口时序
20
JTAG测试,端口时序
表20-1 。时序为JTAG测试端口要求(见图20-1 )
500
600
最大
ns
ns
ns
1
3
4
TC ( TCK )
TSU ( TDIV - TCKH )
日( TCKH - TDIV )
周期时间, TCK
建立时间, TDI / TMS / TRST有效TCK前高
保持时间, TDI / TMS / TRST后TCK高有效
单位
35
10
9
表20-2 。开关特性在推荐工作条件的JTAG测试端口
(见图20-1 )
2
TD ( TCKL - TDOV )
参数
延迟时间, TCK低到TDO有效
500
600
0
最大
18
ns
单位
1
TCK
2
TDO
4
3
TDI / TMS / TRST
2
图20-1 。 JTAG测试端口时序
154
SPRS219D
2003年4月 - 修订2004年6月

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