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数据保留电特性
T
A
= -40 ° C至85°C
符号
V
DR
参数
V
CC
数据保留
测试条件
SCS1 > V
CC
- 0.2V或
SCS2 < V
SS
+ 0.2V或
SUB ， SLB > V
CC
- 0.2V
V
IN
＆ GT ; V
CC
- 0.2V或
V
IN
＆ LT ; V
SS
+ 0.2V
Vcc=1.5V,
SCS1 > V
CC
- 0.2V或
SCS2 < V
SS
+ 0.2V或
SUB ， SLB > V
CC
- 0.2V
V
IN
＆ GT ; V
CC
- 0.2V或
V
IN
＆ LT ; V
SS
+ 0.2V
0
见数据保持时序图
t
RC(2)
ns
民
1.2
典型值
(1)
最大
3.3
单位
V
I
CCDR
数据保持电流
0.2
6
A
t
CDR
t
R
注意：
芯片取消到数据
保留时间
营业恢复时间
2. t
RC
被读出周期时间。
ns
1.典型的值是T的条件下
A
= 25°C典型值进行采样，而不是100 ％测试。
数据保留时序图1
VCC
2.7V
t
CDR
数据保持方式
t
R
IH
VDR
SCS1 > VCC - 0.2V
SCS1
VSS
数据保留时序图2
VCC
2.7V
SCS2
VDR
t
CDR
数据保持方式
t
R
0.4V
VSS
SCS2 < 0.2V
32
AT52BR1664A(T)
3361C–STKD–1/04
