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F I A L
AC特性
参数符号
JEDEC
t
AVQV
t
ELQV
t
GLQV
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXQX
标准。
t
加
t
CE
t
OE
描述
地址输出延迟
芯片使能到输出延迟
输出使能到输出延迟
测试设置
CE ＃ = OE ＃
最大
= V
IL
OE ＃ = V
IL
CE＃ = V
IL
最大
最大
最大
民
-90
90
90
40
30
0
Am27C040
-120
120
120
50
30
0
-150
150
150
65
30
0
-200
200
200
75
40
0
单位
ns
ns
ns
ns
ns
t
DF
芯片使能高或输出使能高，
（注2 ），以先到为准，以输出高Z
t
OH
输出保持时间从地址， CE ＃或
OE ＃ ，先到为准
注意事项：
不要从设备中删除（或插入），当一个套接字V
CC
或V
PP
被施加。
注意事项：
1. V
CC
必须同时或V前申请
PP
，并同时或V后取出
PP
.
2.这个参数进行采样，而不是100 ％测试。
3.开关特性是在操作范围内，除非另有说明。
4.请参阅图1和表1测试规范。
开关波形
2.4
地址
0.45
CE ＃ / PGM ＃
t
CE
OE ＃
t
OE
t
OH
有效的输出
t
DF
（注2 ）
高Z
14971E-1
2.0
0.8
地址是合法的
2.0
0.8
产量
高Z
t
加
（注1 ）
注意：
1. OE ＃可能会延迟到t
加
- t
OE
的地址而对吨冲击下降沿之后
ACC 。
2. t
DF
从OE ＃或CE ＃指定，以先到为准。
封装电容
参数
符号
C
IN
C
OUT
参数
描述
输入电容
TEST
条件
V
IN
= 0 V
CDV032
典型值
10
12
最大
12
15
PD 032
典型值
10
12
最大
12
15
PL 032
典型值
8
9
最大
10
12
单位
pF
pF
输出电容V
OUT
= 0 V
注意事项：
1.该参数仅采样，而不是100 ％测试。
2. T
A
= +25
°
C，F = 1兆赫。
10
Am27C040
