飞思卡尔半导体公司
对于硅压力传感器的可靠性问题
由特里萨Maudie和鲍勃·塔克
传感器产品部
修订后的1997年6月9日
组合。一旦测试完成predic-
令可以用于预期产品的客户基础制成。
如果将可靠性测试过程中被检测到故障，则
失败的原因可分为之一
设计，制造，材料，或用户：以下。该
上的改进可能产生的影响，可能需要
对于一个产品由产品的阶段受到影响
发展。如果产品经过早期的可靠性测试
在它的发展阶段，采取纠正措施可以
一般发生在一个有利的方式和最低
成本。失败的原因究竟是这是真的
归因于设计，制造，或材料。如果一个
被检测的可靠性失效一旦产品处于满
制作，变化可能是非常困难的，使与
通常是非常昂贵的。这种情况下，有时会
导致总的重新设计。
对于可靠性的故障也可能是潜在原因
用户引起的。这是一般的区域，该至少
信息是已知的，尤其是对一种商品类型
制造商，可实现销售通过全球分布
化网络。它是可靠性工程师到最好的任务
预计环境的众人一个特定的
产物可能会看到，并且确定的鲁棒性
产物通过测量可靠性寿命参数。
设计，制造和材料的面积
普遍受到可靠性工程师理解，但
不正确的使用环境，客户令人满意
派可苦于缺乏优化。
抽象
可靠性测试的硅压力传感器是
比以往显着之前更重要
增加传感器的使用。这种增长被认为是在应用
系统蒸发散更换机械系统，以及新
设计。在所有细分市场，期望为
最高的可靠性存在。虽然传感器需求
在所有这些细分市场的成长，大幅度提高
在汽车领域的传感应用正在驱动
需要改进的可靠性和测试能力。该
本文的目的是要仔细看看这些可靠
问题的能力为硅压力传感器。
飞思卡尔半导体公司...
介绍
讨论的可靠性，因为它涉及到半导体elec-
TRONICS当然不是一个新的课题。然而，当人员开发
展中的新技术，如传感器如何可靠性测试
将被执行的是并不总是显而易见的。压力传感器
有一个有趣的两难境地。因为它们是机电
设备中，不同类型的应力，应考虑到
确保不同的元素被运用，因为它们会
在一个实际的应用。此外，非常不同的
包装说明相对其他标准的半导体
包需要特殊的固定装置和测试调校。不过，
作为传感器的市场持续增长，可靠性
测试变得比以往任何时候，以保证更重要的
正在使用的所有细分市场的产品将满足
可靠性寿命预期。
可靠性统计
未经半导体传感器的标准化标
dards ，最终客户被放置在可能的情况
岌岌可危。如果产生非标准可靠性数据和
由制造商发布的，该信息可以是
令人费解的传播和比较。可靠性寿命
统计数据可以是混乱的信息的初级用户
化“，让买家当心” 。
的可靠性的统计报告通常是在以下方面
故障率，三天打鱼两天测得的，或失败率一十亿
器件小时。在大多数情况下，潜在的假设
报告中的任何故障率使用或MTBF是
可靠性测试过程中发生的故障按照一个曝光
nential寿命分布。故障率的倒数是
MTBF ，或平均故障间隔时间。在细节
各种寿命分布将不在这里探讨，但关键
关于指数分布关注的是，失败
率随着时间的推移是不变的。其他寿命分布，如
对数正态分布或威布尔可以采取不同的故障率较
时间，特别是，这两种分布可以代表一个穿出来
可能被看到的一个产品或增加故障率
到达其寿命或对某些类型的局限性
失效机理。
持续时间使用为最可靠的预测
统计是相对短的持续时间相对于所述
产品的生命周期的能力和故障通常没有
观察到。当测试后的一组号码终止
小时达到或时间审查，没有失败是
观察到，故障率可通过使用智的估计
方分布关乎观察和预期
可靠性定义
可靠性是[1]一种产品的概率进行其
超过其预期寿命，并在预定的功能
操作条件下遇到的。四个关键要素
的定义是概率，性能，寿命和
操作条件。概率意味着可靠性
寿命估计将基于统计技进行
niques其中样品进行测试，以预测的寿命
所生产的产品。性能是，所述密钥
样品在给定的预测产品的性能
的时间点，但在制造的变异性要
控制，从而使所有设备执行到相同的官能
的水平。寿命是时间的周期在其上的产品是
旨在为其执行。这个寿命可能小到一个
在一次性血压换能器的情况下，周
或长达15年的汽车应用。环境
换货是也起着既然能操作关键作用的区域
和使用本产品的条件，可以极大地影响
该产品的可靠性。
可以在寿命期间可见的环境因素
任何半导体产品的包括温度，湿度，
电场，磁场，电流密度，压力differ-
无穷区间，振动，和/或化学相互作用。可靠性
测试一般制定要考虑到所有的
这些潜在因素单独或多种
摩托罗拉传感器设备数据
www.motorola.com/semiconductors
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