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ADG758/ADG759
V
DD
V
DD
A2
A1
A0
S2 THRU S8
V
SS
V
SS
S1
V
S
3V
启用
DRIVE （V
IN
)
0V
50%
50%
t
关闭
（ EN ）
V
0
0.9V
0
0.9V
0
ADG758*
EN
V
IN
50
GND
D
R
L
300
C
L
35pF
V
OUT
产量
0V
t
ON
（ EN ）
*类似
连接对于ADG759
测试电路7.启用延迟，T
ON
（ EN ） ，T
关闭
（ EN ）
V
DD
A2 V
DD
A1
A0
R
S
V
S
V
IN
S
EN
GND
V
SS
V
SS
3V
逻辑输入
(V
IN
)
0V
ADG758
*
D
C
L
1nF
V
OUT
V
OUT
Q
INJ
= C
L
V
OUT
V
OUT
*类似
连接对于ADG759
测试电路8.电荷注入
V
DD
0.1 F
V
SS
0.1 F
网
分析仪
0.1 F
V
DD
V
SS
0.1 F
网
分析仪
V
DD
A2
A1
A0
S
V
SS
V
DD
A2
A1
S
A0
V
SS
50
D
50
V
S
V
OUT
2.4V
50
V
S
D
V
OUT
2.4V
EN
GND
R
L
50
EN
GND
R
L
50
关断隔离= 20日志
V
OUT
V
S
插入损耗= 20 LOG
V
OUT
带开关
V
OUT
不带开关
测试电路9.关闭隔离
V
DD
0.1 F
V
SS
0.1 F
测试电路11.带宽
电源排序
A2 V
DD
A1
A0
网
分析仪
50
V
S
50
S1
S2
S8
GND
V
SS
EN
2.4V
网
分析仪
R
L
50
V
OUT
ADG758
*
D
当采用CMOS器件，必须小心，以确保正确的
电源排序。不正确的电源排序
能导致器件经受超出应力
在数据表中列出的最大额定值。数字和模拟
投入应该始终电源和地线后应用。
对于单电源供电，V
SS
应该连接到GND接近
到设备成为可能。
*类似
连接对于ADG759
通道到通道
V
OUT
串扰= 20日志
V
S
测试电路10通道至通道串扰
启示录
B
–11–
