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ADF7023-J
外设特性
模拟数字转换器
该ADF7023 -J支持集成SAR ADC的数字化
的模拟信号，包括模拟温度传感器，所述的
模拟RSSI电平，和一个外部模拟输入信号（引脚30）。
转换时间通常为1微秒。的转换的结果
可以从ADC_READBACK_HIGH寄存器中读取
（地址0x327 ）和ADC_READBACK_LOW寄存器
（地址0x328 ） 。在ADC回读是一个8位的值。
信号源为ADC的输入是通过选择
ADC_CONFIG_LOW寄存器（地址0x359 ） 。在
PHY_RX状态时，信号源自动设置为模拟
RSSI 。 ADC在PHY_RX自动启用。在其他
无线电状态，主处理器必须能ADC通过设置
POWERDOWN_RX （地址0x324 ） = 0x10的。
要执行ADC读回，应按照以下步骤
完成：
1.
2.
3.
阅读ADC_READBACK_HIGH 。这个初始化一个ADC
回读。
阅读ADC_READBACK_LOW 。这个回报率
ADC采样的： ADC_READBACK [0 1] 。
阅读ADC_READBACK_HIGH 。这个回报率
ADC采样的： ADC_READBACK [2 7] 。
将其转换为高频，单比特输出使用二线
为了Σ - Δ转换器。输出可以在GP0引脚进行查看。
这个信号，适当地过滤时，可使用
监察后解调器滤波器输出信号
测量的解调器输出的信噪比
构造所接收的比特流中的，以眼图
测量的接收信号质量
实现模拟FM解调
为了使测试DAC时， GPIO_CONFIGURE设置
（地址0x3FA ）应设置为0xC9 。该TEST_DAC_GAIN
设置（地址0x3FD ）应该被设置为0x00。测试DAC
在GP0引脚的信号可以被过滤了3级，低通RC
过滤重构的解调信号。欲了解更多信息，
见
AN-852
应用笔记。
传输测试模式
有两个被通过设置使能发送测试模式
在VAR_TX_MODE参数（地址0x00D分组
RAM存储器） ，如表42 VAR_TX_MODE描述
进入PHY_TX状态之前，应该设置。
表42.发送测试模式
VAR_TX_MODE
0
1
2
3
4到255
模式
默认情况下;没有发射测试模式
版权所有
连续地发送前导
连续地发送载波
版权所有
温度传感器
集成温度传感器之间的工作范围
-40 ° C至+ 85°C 。以使温度的回读
在PHY_OFF ， PHY_ON或PHY_TX传感器，下面
寄存器进行设置：
1.
2.
3.
设置POWERDOWN_RX （地址0x324 ） = 0×10 = 0×10 。
这使得ADC。
设置POWERDOWN_AUX （地址0x325 ） = 0×02 。这
使温度传感器。
设置ADC_CONFIG_LOW （地址0x359 ） = 0x08的。这
设置ADC输入到温度传感器。
硅版本回读
产品代码和芯片版本的代码可以读出
如在表43中的值所描述的包RAM存储器
的产品代码和芯片版本代码仅对上
电或唤醒从PHY_SLEEP状态，因为
通信处理器过渡覆盖这些值
从PHY_ON状态。
表43.产品代码和芯片版本代码
包RAM
位置
0x001
0x002
0x003
0x004
描述
产品代码，最显著字节= 0x70
产品代码，至少有显著字节= 0x23
硅版本的代码，最显著的字节
硅版本的代码至少显著字节
将温度从ADC回读值确定
使用下面的公式：
温度
（℃ ）=（ ADC_READBACK [7： 0] -
42.197)/1.023 +
修正值
校正值可以通过执行确定
回读在一个单一的已知温度。
测试DAC
该测试DAC允许后解调器滤波器的输出
在外部被观看。它需要16位的滤波器输出和
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