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BA4558xxx , BA4558Rxxx
数据表
功耗
功耗(总损耗)表示可以通过集成电路在Ta被消耗掉的功率= 25℃ (常温) 。 IC加热
当它消耗的功率,和IC芯片的温度比周围温度高。该温度
可以通过IC芯片被接受取决于电路结构,制造工艺,和消耗的功率是有限的。
功耗由在IC芯片(最大结点温度)和热使温度确定
封装(散热能力)的阻力。最大结温度通常等于最大
在存储温度范围值。由集成电路所消耗的功率产生的热量从模制树脂或引线辐射
包的帧。这表示在此散热性(热释放的硬度)的参数被称为
热敏电阻,用符号表示的
θJA ℃ / W.The
温度IC的封装内可以通过此来估计
热阻。图50 ( a)示出了封装的热电阻的模型。热电阻
θJA ,
环境
温度Ta ,结温Tj和功耗的Pd ,可以计算由下式:
θJA
= ( TJMAX - Ta)的/钯
℃/W
(Ⅰ)
在图50 (二)衰减曲线表明功率能够由集成电路所消耗,参照环境温度。力量
可以通过集成电路被消耗,参照环境温度。功率可以由集成电路所消耗开始衰减时
某些环境温度。这种梯度是通过热敏电阻来确定
θJA 。
热阻
θJA
取决于
芯片尺寸,功耗,封装,环境温度,封装条件,风速等即使在相同的
包被使用。热还原曲线表示在特定条件下测得的参考值。图51 (三) , (四)展会
一降额曲线BA4558 , BA4558R的例子。
动力
LSI
の 消 費 電 力
[W]
[W]
LSI的功耗
加入Pd(最大)
P2
θja2
& LT ;
θja1
θJA = ( TJMAX - Ta)的/钯
℃/W
周囲温度
TA [
]
环境温度TA [ ℃ ]
P1
θ'
ja2
θ
ja2
TJ ' (最大) Tj max的
θ'
ja1
θ
ja1
75
100
125
150
芯片表面温度TJ [ ℃ ]
チップ 表面温度
TJ [
]
功耗P [ W]
消费电力P [ W]
0
25
50
环境
周 囲 温 度
TA [
]
[℃]
温度Ta
(一)热电阻
(二)降额曲线
图。 50Thermal性和降额曲线
1000
*
1000
BA4558RF (11)
功率耗散[毫瓦]
.
功率耗散[毫瓦]
.
800
800
BA4558RFJ (12)
*
BA4558F (11)
*
*
600
BA4558FJ (12)
BA4558FV / FVT ( 13 )
BA4558FVM (14)
*
*
600
BA4558RFV / FVT ( 13 )
BA4558RFVM (14)
*
*
400
400
200
200
0
0
25
50
75
100
环境温度[
]
.
125
0
0
25
50
75
100
环境温度[
]
.
125
(c)BA4558
(d)BA4558R
(*11)
5.52
(*12)
5.4
(*13)
5
(*14)
4.7
单位
毫瓦/ °
当使用本机上面TA = 25 ℃ ,减去上述每度℃的价值。允许的耗散值。
允许的耗散值时, FR4玻璃环氧树脂板70毫米X30 70毫米X30 1.6毫米(低于3 %库珀箔区)安装。
图。 51降额曲线
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