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FLEX 6000可编程逻辑器件系列数据手册
表10. JTAG时序参数值&
符号
t
JCP
t
JCH
t
JCL
t
JPSU
t
JPH
t
JPCO
t
JPZX
t
JPXZ
t
JSSU
t
JSH
t
JSCO
t
JSZX
t
JSXZ
参数
TCK
时钟周期
TCK
时钟高电平时间
TCK
时钟低电平时间
JTAG端口设置时间
JTAG端口保持时间
JTAG端口的时钟到输出
JTAG端口高阻抗输出有效
JTAG端口有效输出为高阻
捕获寄存器建立时间
捕获寄存器保持时间
更新寄存器时钟到输出
更新寄存器的高阻抗有效
产量
更新注册有效的输出到高
阻抗
民
100
50
50
20
45
最大
单位
ns
ns
ns
ns
ns
25
25
25
20
45
35
35
35
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
通用测试
每个FLEX 6000器件功能测试。每一个完整的测试
可配置的SRAM位和所有的逻辑功能可确保100 ％
配置收益率。 AC测试测量FLEX 6000器件
等同于那些在示出的条件下进行
图17 。
多种
测试模式可以使用期间的各个阶段来配置设备
生产流程。
图17. AC测试条件
电源瞬变影响
AC测量。同时
多路输出的转换
应避免用于精确
464
测量。阈值测试必须
(703
)
不能交流的条件下进行。
[521
]
大振幅，快速地电流
瞬变通常发生的
设备
器件输出放电负载
产量
电容。当这些瞬变
流过寄生
设备之间的电感
250
接地引脚和测试系统接地，
(8.06 k)
显著降低可观测
[481
]
抗噪声可导致。号码
输入设备
没有括号的5.0 -V
上升和下降
设备或输出。在数字
倍< 3纳秒
括号内为3.3 V或设备
输出。括号内的数字是
2.5 -V的设备或输出。
VCC
为了测试
系统
C1 （包括
夹具电容）
30
Altera公司。
