ZL38065
7.1
测试访问端口（ TAP ）
数据表
技术咨询提供的ZL38065了许多测试功能的访问。它包括四个输入引脚和一个输出管脚。
下面的引脚上发现水龙头。
测试时钟输入（ TCK ）
在TCK提供时钟，测试逻辑。在TCK不与任何片上时钟，从而干扰
保持独立。的TCK时钟允许测试数据的移位移入或移出边界扫描寄存器单元
同时与所述设备的操作和不与芯片上的逻辑冲突。
测试模式选择输入（TMS）的
在TMS输入接收的逻辑信号由TAP控制器解释来控制测试操作。
TMS的信号进行采样的TCK时钟脉冲的上升沿。该引脚在内部上拉至V
DD1
当它是
不从外部源来驱动。
测试数据输入（TDI ）
施加到这个端口的串行输入数据被送入要么到指令寄存器或成测试数据寄存器
根据不同的序列预先施加到TMS输入。两个寄存器都是在随后的描述
部分。所接收的输入数据进行采样， TCK脉冲的上升沿。该引脚在内部上拉至
V
DD1
当它不是从外部源驱动。
测试数据输出（TDO ）
根据不同的序列预先施加到TMS输入的任一指令寄存器的内容
或数据寄存器串行移出对TDO 。从TDO的数据在时钟的下降沿
的TCK脉冲。当没有数据被通过边界扫描单元移动， TDO的驱动程序设置为一个高
阻抗状态。
测试复位（ TRST ）
该引脚用于复位JTAG扫描结构。该引脚在内部上拉至V
SS
.
7.2
指令寄存器
根据IEEE 1149.1标准中， ZL38065使用公共指令。 JTAG接口包含一个
3位指令寄存器。指令串行方式加载到指令寄存器从TDI当TAP
控制器是在其移动- IR状态。随后，指令被解码，以实现两个基本功能：对
选择将操作，而指令是当前的测试数据寄存器，并以定义的串行测试数据寄存器
路径，它用于将数据寄存器中扫描期间移动TDI和TDO之间的数据。
7.3
测试数据寄存器
在IEEE 1149.1规定， ZL38065 JTAG接口包含三个测试数据寄存器：
边界扫描寄存器
边界扫描寄存器由一系列安排边界扫描单元的周围形成一个扫描路径
该ZL38065核心逻辑的边界。
旁路寄存器
旁路寄存器为单级移位寄存器，它提供了从TDI到TDO一比特的路径。
设备识别寄存器
设备识别寄存器可以访问以下编码信息：
设备的版本号，部件号和制造商的名称。
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卓联半导体公司
