288MB ： X36 ， X18 ， X9 2.5V V
EXT
, 1.8V V
DD
， HSTL ， RLDRAM II
TAP指令集
图37：
TAP时序
1
测试时钟
（ TCK ）
tMVTH
2
3
4
5
6
tTHTL
tTHMX
t
第TL
tTHTH
测试模式选择
（TMS）的
tDVTH
tTHDX
测试数据，在
（ TDI）的
tTLOV
tTLOX
测试数据输出
（ TDO ）
不在乎
未定义
表15：
描述
TAP交流电气特性和操作条件
+0°C
≤
T
C
≤
+ 95°C ; + 1.7V
≤
V
DD
≤
+ 1.9V ，除非另有说明
符号
V
IH
V
IL
民
V
REF
+ 0.3
V
SS
Q - 0.3
最大
V
DD
+ 0.3
V
REF
- 0.3
单位
V
V
笔记
1, 2
1, 2
输入高电平（逻辑1 ）电压
输入低电平（逻辑0 ）电压
表16：
描述
TAP AC电气特性
注1 ; + 0 ℃，
≤
T
C
≤
+ 95°C ; + 1.7V
≤
V
DD
≤
+1.9V
符号
t
THTH
f
TF
t
t
民
20
最大
单位
ns
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
时钟
时钟周期时间
时钟频率
时钟高电平时间
时钟低电平时间
输出时间
TCK低到TDO未知
TCK低到TDO有效
TDI有效期至TCK高
TCK HIGH到TDI无效
设置时间
TMS设置
捕捉设置
保持时间
TMS保持
捕获保持
50
10
10
0
10
5
5
5
5
5
5
THTL
第TL
t
TLOX
t
TLOV
t
t
DVTH
THDX
t
MVTH
t
CS
t
若THMx端
t
CH
注：1 。
t
CS和
t
CH指的建立和保持从锁存数据的时间要求
边界扫描寄存器。
PDF ： 09005aef80a41b46 /来源： 09005aef809f284b
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