REF3212 -EP ， REF3220 -EP ， REF3225 -EP

REF3230 -EP ， REF3233 -EP ， REF3240 -EP

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SBVS078B

–

2006年10月

–

经修订的2011年8月

4 PPM / ° C， 100

μA

SOT23-6封装的串联电压基准

检查样品：

REF3212 -EP ， REF3220 -EP ， REF3225 -EP ， REF3230 -EP ， REF3233 -EP ， REF3240 -EP

1

特点

优秀指定的漂移性能：

–

7ppm的/ ° C（最大值） ，在0 ° C至125°C

–

为20ppm / ° C（最大值）的

–40°C

至125℃

–

为40ppm / ° C（最大值）的

–55°C

至125℃

Microsize套餐： SOT23-6

高输出电流：

±10

mA

高精度： 0.01 ％

低静态电流： 100

μA

低压差： 5毫伏

应用

便携式设备

数据采集系统

医疗设备

测试设备

GND_F

GND_S

启用

1

2

3

REF3212

REF3220

REF3225

REF3230

REF3233

REF3240

6

5

4

OUT_F

OUT_S

IN

支持国防，航天，

和医疗应用

(1)

控制基线

一个封装/测试网站

一个网站制作

提供军用（ -55°C / 125°C ）

温度范围

(1)

延长产品生命周期

扩展产品更改通知

产品可追溯性

额外的温度范围可供选择 - 联系工厂

温度漂移

(0

_

C至+ 125

_

C)

160

+125_C

140

漏失电压（MV ）

120

100

80

60

40

20

0

0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5 5.5 6 6.5 7

漂移（ PPM /

_

C)

15

10

5

+25

_

C

40_C

输入输出电压差

与负载电流

人口

0

5

10

15

负载电流（mA ）

1

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仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

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仪器标准保修。生产加工过程中不

不一定包括所有参数进行测试。

版权

2006-2011年，德州仪器