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1兆位/ 2兆位/ 4兆位多用途闪存
SST39SF010A / SST39SF020A / SST39SF040
数据表
为3字节的序列
软件ID退出和复位
地址
14-0
5555
2AAA
5555
DQ
7-0
AA
55
F0
T
IDA
CE＃
OE ＃
T
WP
WE＃
T
WHP
SW0
SW1
SW2
1147 F10.0
图13 ：软件
ID退出和复位
V
IHT
输入
V
IT
参考点
V
OT
产量
V
ILT
1147 F11.1
AC测试输入在V驱动
IHT
（ 3.0V）为逻辑“1 ”和第五
ILT
（0V）为一个逻辑“0”。
输入和输出的测量参考点为V
IT
（1.5V ）和V
OT
（ 1.5V ） 。输入上升
和下降时间（10％
90％）是<5纳秒。
注意：
V
IT
- V
输入
TEST
V
OT
- V
产量
TEST
V
IHT
- V
输入
高测试
V
ILT
- V
输入
低测试
图14 ： AC
输入/输出参考波形
V
DD
TO测试仪
R
L
高
到DUT
C
L
R
L
低
1147 F12.0
图15 ：一个
试验载荷例
2013硅存储技术公司
DS25022B
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