LTC2192
LTC2191/LTC2190
应用信息
数字输出是通过将专用随机
LSB的和所有其他数据之间的或逻辑运算
输出位。为了解码，反向操作应用于安
异或操作的最低位和所有之间施加
其他位。帧中继和DCO的输出不受影响。该
输出随机函数发生器是通过串行编程启用
模式控制寄存器A1 。
数字输出测试图形
以允许在电路测试的数字接口的
A / D ，有一个测试模式，迫使A / D转换数据输出
（ D15 - D0 ）两个通道为已知值。数码
输出测试模式由串行编程启用
模式控制寄存器A2，A3和A4。当启用时，
测试模式覆盖所有其他格式模式： 2的
补充和随机数发生器。
输出禁用
数字输出可以通过串行编程禁用
明模式控制寄存器A2 。当前驱动器为所有
数字输出，包括DCO和FR被禁用，以节省
功率或启用在线测试。当禁用的COM
每对输出的共模变成高阻抗，
但是差分阻抗可以保持较低。
睡眠和打盹模式
A / D转换可放置在睡眠或打盹模式，以节省
力。在睡眠模式下，整个设备断电，
导致1mW的功率消耗。睡眠模式
通过模式控制寄存器A1启用（串行编程
明模式），或通过SDI（并行编程模式）。
所需的时间从睡眠模式中恢复
取决于对V旁路电容的大小
REF
,
REFH和REFL 。对于图8中所建议的值，则
2MS经过A / D将趋于稳定。
在打盹模式下的A / D通道的任意组合可
断电而内部参考电路和
PLL保持活跃，使速度比从睡梦中醒来
模式。从休眠模式中恢复至少需要100
时钟周期。如果应用程序要求非常精确的DC
稳定时间，然后一个额外的50微秒应该允许这样的
片内基准可以从轻微的温度定居
移位引起的供电电流的A / D的变化
SDI
叶打盹模式。打盹模式由模式控制启用
在串行编程模式寄存器A1 。
器件编程模式
该LTC2192 / LTC2191 / LTC2190的工作模式
可通过并行接口或一个被编程
简单的串行接口。的串行接口具有更flex-
ibility并可以设定所有可用的模式。并行
界面更加有限，只能进行编程的一些
更常用的模式。
并行编程模式
使用并行编程模式， PAR / SER应
连接到V
DD
。该
CS ，
SCK ， SDI和SDO引脚是二进制
逻辑输入，设定一定的操作模式。这些引脚
可以连接到V
DD
或接地，或驱动由1.8V，2.5V或
3.3V CMOS逻辑。当作为输入使用时，SDO应
通过一个1K串联电阻驱动。表3示出了
通过模式设置
CS ，
SCK ， SDI和SDO 。
表3.并行编程模式控制位（ PAR / SER = V
DD
)
针
CS / SCK
描述
2巷/ 4路/ 1 -里选择位
00 = 2巷输出模式
01 = 4巷输出模式
10 = 1巷输出模式
11 - 未使用
掉电控制位
0 =正常运行
1 =睡眠模式
LVDS当前选择位
0 = 3.5毫安LVDS电流模式
1 = 1.75毫安LVDS电流模式
SDO
串行编程模式
要使用串行编程模式， PAR / SER应
接地。该
CS ，
SCK ， SDI和SDO引脚变为
串行接口，编程A / D模式控制
寄存器。数据被写入一个寄存器具有16位串行
字。数据也可以从寄存器读回以验证
其内容。
串行数据传输开始时，
CS
被拉低。数据
对SDI引脚被锁在第一个连接16上升沿
SCK 。在网络连接之后，任何SCK的上升沿首先16顷忽略。
在数据传输结束时
CS
被拉高了。
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