的PolyZen
聚合物增强型齐纳二极管
微型组件
过电压电路保护产品
产品： ZEN132V230A16CE
文档： SCD28238
REV字母：A
版本日期： 2012年6月7日
第8页编号： 3
条款的德网络nition
I
PTC
, I
HOLD
I
PTC
I
FLT
I
OUT
跳闸事件
电流流过的的PTC部分
电路
RMS的故障电流流经二极管
目前流出的V
OUT
该装置的销
一个条件，其中所述PTC转换到一个高
电阻状态，从而显著限制我
PTC
和相关的电流。
时该装置的所述PTC部分保持在一
高电阻状态。
I
OUT
V
IN
V
OUT
I
FLT
旅
耐力
GND
一般特定网络阳离子
工作温度
储存温度
-40 °C至+ 85°C
-40 °C至+ 85°C
典型电气特性
1-3, 11
（典型的，除非另有规定）
V
Z4
(V)
I
zt4
(A)
民
典型值
最大
漏电流
I
HOLD5
(A)
@ 20
o
C
TEST
最大
电压电流
(V)
（M A）
R1
Max7
R
Typ6
（欧姆多个） （欧姆多个）
V
INT
最大
8
I
FLT
最大
9
跳电网
耗散
10
TEST
TEST
TEST
V
INT
最大
I
FLT
最大
POW ER
当前
电压
电压
(V)
(A)
(W)
(A)
(V)
(V)
13.20 13.40 13.65
0.1
2.3
13.15
5.0
0.032
0.060
16
5
+3
-40
+16
-12
1
16
电气特性，在25℃测定，除非另有规定。
此装置适用于有限的故障保护。反复跳闸事件或延长行程耐力会降低设备和
可能会影响性能规格。性能的影响将依赖于多种因素，包括但不限于：
电压，电流跳闸，跳闸时间，跳闸周期和电路设计。有关详细信息或评级特定于应用程序的联系TE
连接电路保护部直接。
注3 ：规格采用1.0盎司0.045 “宽铜线上专用的FR4电路板的测试开发。在性能上你
应用可以变化。
注4 ：我
zt
是当前在该V
z
测量（V
Z
= V
OUT
） 。其他V
Z
值可根据要求提供。
注5 ：我
HOLD
：最大稳态我
PTC
（电流进入或离开在V
IN
销装置的） ，不会产生在跳机事件
规定的温度。规范假定我
FLT
（电流流过齐纳二极管）是足够低的，以便防止
从作为热源的二极管。测试与“开放”的齐纳进行。
注6 ：v典型值： V之间的电阻
IN
和V
OUT
在室温下在正常操作期间的引脚。
注7 ：v
1Max
： V之间的最大阻力
IN
和V
OUT
在室温下销，一小时后，第一跳闸事件或之后
再溢流焊接。
注8 ： V
INT
最大： V
INT
最大值被定义为典型的资格的设备（98％的设备，95％置信度）在存活上的电压
至少100趟次循环和24个小时，在规定的电压和电流（I跳闸耐力
PTC
). V
INT
最大测试使用进行
一个"shorted"负载（V
OUT
= 0 V). V
INT
马克斯是一个生存能力的评价，而不是绩效评价。对于收视成绩，见注2 。
注9 ：我
FLT
最大值：最大RMS故障电流的装置的二极管部分能承受并保持复位。规范
依赖于电流流过二极管的方向。 RMS故障电流超过我
FLT
最大可能永久损坏
的PolyZen器件。规范假定我
OUT
= 0测试空载连接到V进行
出。
注10 ：由设备消散时，在“跳闸”状态，测量TE测试板（见注3 ）电源。
注11 ：根据有限数据的资格，并受到产品规格改变。
注1 ：
注2 ：
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