TPS2592Ax
TPS2592Bx
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SLVSC11A - 2013年6月 - 修订2013年6月
5V / 12V的电熔丝与过电压保护和阻断FET控制
检查样品：
TPS2592Ax ， TPS2592Bx
1
特点
12V保护 - TPS2592Ax
5V保护 - TPS2592Bx
集成的28mΩ导通MOSFET
20V的绝对最大电压
可编程电流限制（ ± 15 ％精度）
阻断FET驱动器
修正过电压设定
可编程的输出压摆率， UVLO
内置热关断
UL认证待定
在单点故障测试安全
(UL60950)
小脚印 - 10L （采用3mm x 3mm ） VSON
描述
该TPS2592xx家族eFuses的高度
集成电路保护和电源管理
解决方案在一个微型封装。与极少的外部
成分和多种保护模式，它们是
防过载，短路电路的稳健防守，
浪涌电压，浪涌电流过大，而反
电流。只有一个外部电阻需要
设置电流限制水平，其中有一个典型的
的±15％的精度。过电压事件被限定
内部钳位电路至安全固定的最大，
无需外部组件所需。 TPS2592Ax
器件提供过电压保护（ OVP ）的
12V系统和TPS2592Bx设备为5V
系统。在特定的电压斜坡的情况下
要求， dv / dt的引脚被设置，可以是
与单个电容器编程，以确保正确
输出斜坡率。许多系统中，如固态硬盘
一定不能让滞留电容的能量转储
后面通过FET的体二极管上下垂或
总线短路。该BFET引脚对于这样的系统。一
外部NFET可以连接“背靠背”与
该TPS2592xx输出和栅极由BFET驱动。
当TPS2592xx被禁用，则电流流
停在两个方向上。 TPS2592xL部分将锁定
关的故障，并TPS2592xA份之后将试图
热关断复位后重新启动。
瞬态：输出短路
应用
HDD和SSD驱动器
机顶盒
服务器/ AUX用品
风扇控制
PCI / PCIe卡
交换机/路由器
应用原理
产品信息
产品型号
TPS2592AA
TPS2592BA
TPS2592AL
TPS2592BL
UVLO
4.3 V
4.3 V
4.3 V
4.3 V
过电压钳位（ TYP ）
15.0 V
6.1 V
15.0 V
6.1 V
故障响应
自动重试
自动重试
LATCHED
LATCHED
状态
活跃
预览
预览
活跃
1
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
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TPS2592Bx
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订购信息
(1)
产品型号
TPS2592ALDRC
TPS2592AADRC
TPS2592BLDRC
TPS2592BADRC
(1)
最热
2592AL
2592AA
2592BL
2592BA
包
10针刚果（金）
10针刚果（金）
10针刚果（金）
10针刚果（金）
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI
网站：
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绝对最大额定值
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
(1)
价值
(2)
民
电源电压范围
(3)
输出电压
ILIM
EN / UVLO
dv / dt的
BFET
静电放电
人体模型
(4)
带电器件模型
(5)
最大
20
22
VIN + 0.3
7
7
7
30
±2000
±500
单位
V
V
V
V
V
V
V
V
VIN
VIN （ 10ms的瞬间）
OUT
–0.3
–0.3
–0.3
–0.3
–0.3
–0.3
连续功率耗散
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
见热特性
超出上述绝对最大额定值强调可能会造成永久性损坏设备。这些压力额定值
只有与该设备在这些或超出任何条件的功能操作推荐的工作条件下显示
是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
所有电压值，除了差分电压，是相对于网络的接地端子。
经测试符合JEDEC标准22 ，测试方法A114 -B
经测试符合JEDEC标准22 ，测试方法C101 -A
经测试符合JEDEC标准22 ，测试方法A115 -A
热特性
(1)
热公制
θ
JA
θ
JCtop
θ
JB
ψ
JT
ψ
JB
θ
JCbot
(1)
结至环境热阻
结至外壳（顶部）热阻
结至电路板的热阻
结至顶部的特征参数
结至电路板的特征参数
结至外壳（底部）热阻
TPS2592xx
刚果民主共和国（ 10 ）引脚
45.9
53
21.2
1.2
21.4
5.9
° C / W
单位
有关传统和新的热度量的更多信息，请参阅IC封装热度量应用报告，
SPRA953.
2
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推荐工作条件
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
民
VIN TPS2592Ax
VIN TPS2592Bx
输入电压范围
BFET
的dv / dt ， EN / UVLO
ILIM
阻力
外部电容
ILIM
OUT
dv / dt的
–40
–40
4.5
4.5
0
0
0
40.2
0.1
100
1
1
25
25
典型值
12
5
最大
13.8
5.5
VIN+6
6
3.3
162
1000
1000
125
85
kΩ
F
nF
°C
°C
V
单位
工作结温范围，T
J
工作环境温度范围内，T
A
电气特性
–40°C
≤
T
J
≤
125°C ， VIN = 12V的TPS2592Ax ， VIN = 5V的TPS2592Bx ，V
EN / UVLO
= 2V ，R
ILIM
= 100kΩ的，C
DVDT
= OPEN 。所有
电压参考到GND （除非另有说明）
参数
VIN （输入电源）
V
紫外线辐射
V
UVhyst
IQ
ON
IQ
关闭
UVLO门限，瑞星
UVLO迟滞
启用： EN / UVLO = 2V ， TPS2592AX
电源电流
启用： EN / UVLO = 2V ， TPS2592Bx
EN / UVLO = 0V
VIN > 16.5V ，我
OUT
= 10毫安， TPS2592Ax
V
OVC
过电压钳位
TPS2592Bx ， VIN > 6.75V ，我
OUT
= 10毫安，
–40℃
≤
T
J
≤
85℃
TPS2592Bx ， VIN > 6.75V ，我
OUT
= 10毫安，
–40℃
≤
T
J
≤
125℃
EN / UVLO （启用/ UVLO输入）
V
ENR
V
ENF
I
EN
T
OFFDLY
EN阈值电压上升
EN阈值电压下降
EN输入漏电流
延时关闭
0 V
≤
V
EN
≤
5V
EN ↓键BFET ↓ ，C
BFET
= 0
TPS2592Ax ， EN / UVLO
→
H至OUT = 11.7V ，C
DVDT
= 0
TPS2592Bx ， EN / UVLO
→
H至OUT = 4.9V ，C
DVDT
= 0
T
DVDT
输出上升时间
TPS2592Ax ， EN / UVLO
→
H至OUT = 11.7V ，
C
DVDT
= 1 nF的
TPS2592Bx ， EN / UVLO
→
H至OUT = 4.9V ，
C
DVDT
= 1 nF的
I
DVDT
R
dVdT_disch
V
dVdTmax
收益
DVDT
dv / dt的充电电流
dv / dt的放电电阻
的dV / dt最大值电容器电压
的dv / dt为OUT增益
ΔV
DVDT
V
DVDT
= 0 V
EN / UVLO = 0 V，I
DVDT
= 10毫安下沉
50
0.7
0.28
1.37
1.32
–100
1.4
1.35
0
0.4
1.44
1.39
100
V
V
nA
s
13.8
5.5
5.25
0.2
0.4
4.15
4.3
5.4%
0.42
0.62
0.1
15
6.1
6.1
0.65
0.80
0.25
16.5
6.75
6.75
V
mA
mA
mA
4.45
V
测试条件
民
典型值
最大
单位
的dV / dt （OUTPUT斜坡控制）
1
0.4
12
5
220
73
5.5
4.85
100
nA
Ω
V
V/V
1.3
0.52
ms
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电气特性（续）
–40°C
≤
T
J
≤
125°C ， VIN = 12V的TPS2592Ax ， VIN = 5V的TPS2592Bx ，V
EN / UVLO
= 2V ，R
ILIM
= 100kΩ的，C
DVDT
= OPEN 。所有
电压参考到GND （除非另有说明）
参数
ILIM （流限编程）
I
ILIM
I
OL
过载电流限制
I
OL - R-短
I
OL - R-开放
ILIM偏置电流
R
ILIM
= 45.3 kΩ的，V
VIN -OUT
= 1 V
R
ILIM
= 100 kΩ的，V
VIN -OUT
= 1 V
R
ILIM
= 150 kΩ的，V
VIN -OUT
= 1 V
R
ILIM
= 0
Ω,
电阻短路电流限制（单点
故障检测： UL60950 ）
R
ILIM
= OPEN ，打开电阻电流限制（单点
故障检测： UL60950 ）
R
ILIM
= 45.3 kΩ的，V
VIN -OUT
= 5 V ， TPS2592Bx
R
ILIM
= 45.3 kΩ的，V
VIN -OUT
= 12 V ， TPS2592Ax
I
SCL
短路电流限制
R
ILIM
= 100 kΩ的，V
VIN -OUT
= 5 V ， TPS2592Bx
R
ILIM
= 100 kΩ的，V
VIN -OUT
= 12 V ， TPS2592Ax
R
ILIM
= 150 kΩ的，V
VIN -OUT
= 5 V ， TPS2592Bx
R
ILIM
= 150 kΩ的，V
VIN -OUT
= 12 V ， TPS2592Ax
比
FASTRIP
T
FastOffDly
V
OpenILIM
T
ON
R
DSON
I
OUT -OFF- LKG
I
OUT -OFF-水槽
I
BFET
V
BFETmax
R
BFETdisch
T
BFET -ON
T
BFET -OFF
快速旅行比较级w.r.t.
过载电流限制
快速触发比较器延迟
ILIM开放电阻检测阈值
I
FASTRIP
: I
OL
I
OUT
＆ GT ;我
FASTRIP
V
ILIM
上升，R
ILIM
=打开
EN / UVLO
→
H与我
VIN
= 100mA时1A阻性负载时输出
T
J
= 25°C
T
J
= 125°C
(1)
V
EN / UVLO
= 0 V, V
OUT
= 0 V （采购）
V
EN / UVLO
= 0V, V
OUT
= 300毫伏（沉没）
V
BFET
= V
OUT
V
EN / UVLO
= 0 V，I
BFET
= 100 A
EN / UVLO
→
H与V
BFET
= 12 V ，C
BFET
= 1 nF的
EN / UVLO
→
H与VB
FET
= 12 V ，C
BFET
- 10 nF的
EN / UVLO
→
l至
VBFET
= 1 V ，C
BFET
= 1 nF的
EN / UVLO
→
L到V
BFET
= 1 V ，C
BFET
- 10 nF的
15
–5
10
21
1.72
1.66
3.14
2.90
4.12
3.75
1.79
3.46
4.4
10
2.10
3.75
5.2
0.7
0.55
2.05
1.98
3.56
3.32
4.86
4.42
160%
3
3.1
s
V
2.38
2.29
3.98
3.75
5.60
5.10
A
2.42
4.03
6
A
A
A
A
测试条件
民
典型值
最大
单位
OUT （ PASS FET输出）
导通延迟
FET导通电阻
220
28
39
0
15
33
46
1
20
s
mΩ
在关机状态下偏置电流
A
BFET （阻塞FET栅极驱动电路）
BFET充电电流
BFET钳位电压
BFET放电电阻
BFET导通时间
2
V
VIN+6.4
26
4.2
42
0.4
1.4
36
A
V
Ω
ms
BFET关断时间
s
TSD （热关断）
T
SHDN
T
SHDNhyst
TSD阈值上升
(1)
TSD滞后
(1)
TPS2592xL
热故障：闭锁或自动重试
TPS2592xA
160
10
LATCHED
自动
重试
°C
°C
(1)
的限制，这些参数是基于特征数据中指定，并在生产过程中没有经过测试。
4
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典型特征
T
J
= 25 ° C，V
VIN
= 12 V的TPS2592Ax ，V
VIN
= 5 V的TPS2592Bx ，V
EN / UVLO
= 2 V ，R
ILIM
= 100 kΩ的，C
VIN
= 0.1 μF ，C
OUT
=1F,
C
DVDT
=打开（除非另有说明）
4.35
4.3
V
UVLO
（上升，下降） （V ）
0.2
4.25
I
VIN -OFF
（MA ）
4.2
4.15
4.1
0.05
4.05
4
-50
0
50
温度（℃）
100
150
C001
0.25
0.15
0.1
125 °
C
85 °
C
25 °
C
-40 °
C
0
5
10
V
IN
(V)
15
20
C002
0
图1. V
UVLO
与温度
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0
5
10
V
IN
(V)
15
125 °
C
85 °
C
25 °
C
-40 °
C
20
C003
图2.我
VIN -OFF
VS V
IN
整个温度范围
1
0.8
I
VIN -ON
（MA ）
I
VIN -ON
（MA ）
0.6
0.4
125 °
C
85 °
C
25 °
C
-40 °
C
0
5
10
V
IN
(V)
15
20
C004
0.2
0
图3.我
VIN -ON
VS V
IN
整个温度范围
(TPS2592Ax)
16
10毫安
百毫安
500毫安
图4.我
VIN -ON
VS V
IN
整个温度范围
(TPS2592Bx)
6.6
6.4
6.2
15.5
V
OVC
(v)
15
V
OVC
(V)
6
5.8
5.6
10毫安
14.5
-50
0
50
温度（℃）
100
150
C005
5.4
-50
0
50
温度（
o
C)
100
150
图5. V
OVC
与温度ACROSS我
OUT
(TPS2592Ax)
图6. V
OVC
与温度
(TPS2592Bx)
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